1、 - 2 - 附件 行业标准修改通知单 NB/T 47013.2-2015 承压设备无损检测 第 2 部分：射线检测 第 1 号修改单 本修改单经国家能源局于 2018 年 5 月 14 日以第 7 号公告批准，自 2018 年 7 月 1日起实施。 第 2 章 第 十三 行中更改 标准号 ： “ JB/T 5075” 更改为 “ GB/T 23910” 。 4.2.6.1 条第 一 行中更改标准号： “ JB/T 5075” 更改为 “GB/T 23910” 。 5.5.6.3 条后补充新条文， 5.5.6.4： “ 不要求 100%检测的小径管环向焊接接头的透照次数由合同双方商定 ” 。
2、7.1.1 条改用新条文： 7.1.1“ 本条适用于壁厚 T2mm ，材质为钢、镍及镍合金、铜及铜合金的承压设备管子及压力管道熔化焊对接环向焊接接头射线检测结果评定和质量分级，适用的焊接接头的型式包括沿焊缝根部全长有紧贴基本金属的垫板的单面焊对接焊缝和不加垫板的单面焊对接焊缝。 对于熔化焊对接纵向焊接接头（包括螺旋焊）按照第 6 章的规定执行 ” 。 7.2.1 条改用新条文： 7.2.1“ 本条适用于壁厚 T2mm ，材质为铝及铝合金的承压设备管子及压力管道熔化焊对接环向焊接接头射线检测结果评定和质量分级，适用的焊接接头 的型式包括沿焊缝根部全长有紧贴基本金属的垫板的单面焊对接焊缝和不加垫板
3、的单面焊对接焊缝。对于熔化焊对接纵向焊接接头（包括螺旋焊）按照第 6 章的规定执行 ” 。 7.3.1 条改用新条文： 7.3.1“ 本条适用于壁厚 T2mm ，材质为钛及钛基合金的承压设备管子及压力管道熔化焊对接环向焊接接头射线检测结果评定和质量分级，适用的焊接接头的型式包括沿焊缝根部全长有紧贴基本金属的垫板的单面焊对接焊缝和不加垫板的单面焊对接焊缝。对于熔化焊对接纵向焊接接头（包括螺旋焊）按照第 6 章的规定执行。 ” - 3 - 行业标准修改通知单 NB/T 47013.3-2015 承压设备无损检测 第 3 部分：超声检测 第 1 号修改单 本修改单经国家能源局于 2018 年 5 月
4、 14 日以第 7 号公告批准，自 2018 年 7 月 1日起实施 。 5.3.3.1.1 条 改用新条文 ： 5.3.3.1.1 “ 直探头选用一般应按表 3 的规定进行。在满足 5.3 条规定的 灵敏度 及缺陷判定的 基础上，也可以选用其他型式的探头，如双晶直探头或多晶直探头（ 含 板材厚度 60mm 时） 。 ” 5.3.9.2 第一行中更改质量分级级别： “ 级 ” 更改为“ 级 ” 。 表 6 更改 为新表 6： 新 表 6 承压设备用板材中部检测区域质量分级 等级 最大允许单个缺陷指示面积 S 或当量平底孔直径 D 在任一 1m1m 检测面积内缺陷最大允许个数 单个缺陷指示面积或
5、 当量平底孔直径评定范围 最大允许个数 TI 双晶直探头检测时 ： S 50mm2 双晶直探头检测时 ： 20mm2 S 50mm2 10 或单晶直探头检测时 ： D 5mm+8dB 或单晶直探头检测时 ： 5mm D 5mm+8dB I 双晶直探头检测时 ： S 100mm2 双晶直探头检测时 ： 50mm2 S 100mm2 10 或单晶直探头检测时 ： D 5mm+14dB 或单晶直探头检测时 ： 5mm+8dB D 5mm+14dB II S 1000mm2 100mm2 S 1000mm2 15 III S 5000mm2 1000mm2 S 5000mm2 20 IV 超过 级者
6、注：使用单晶直探头检测并确定 5.3.7.1 b） 所示 缺陷 的质量分级（ T I 级和 级） 时， 与双晶直探头要求相同。 表 7 更改为新表 7： - 4 - 新 表 7 承压设备用板材边缘或剖口预定线两侧检测区域质量分级 等级 最大允许单个缺陷指示长度 Lmax 最大允许单个缺陷指示面积 S 或 当量平底孔直径 D 在任一 1m检测长度内最大允许缺陷个数 单个缺陷指示长度 L 或 当量平底孔直径评定范围 最大允许个数 TI 20mm 双晶直探头检测时 ： S 50mm2 双晶直探头检测时 ： 10mm L 20mm 2 或单晶直探头检测时 ： D 5mm+8dB 或单晶直探头检测时 ：
7、 5mm D 5mm+8dB I 30mm 双晶直探头检测时 ： S 100mm2 双晶直探头检测时 ： 15mm L 30mm 3 或单晶直探头检测时 ： D 5mm+14dB 或单晶直探头检测时 ： 5mm+8dB D 5mm+14dB II 50mm S 1000mm2 25mm L 50mm 5 III 100mm S 2000mm2 50mm L 100mm 6 IV 超过级者 注：使用单晶直探头检测并确定 5.3.7.1 b） 所示 缺陷 的质量分级（ TI 级和 级） 时， 与双晶直探头要求相同。 将 5.6.4.1 条 中的“轴向”二字删除。 将 5.6.4.2 条 中的“轴向
8、”二字删除。 8.4.6.2.3.1 b)条 改用新 条文 ： 8.4.6.2.3.1 b)“ 工件厚度 t 15mm 时，缺陷指示长度应大于等于 t/2 或 15mm（ 取大者 ,但最大为 30mm） 。 ” 附录 J 的表 J.1 更改为新表 J.1： 新 表 J.1 RB-L 系列对比 试块尺寸 （推荐） 单位为 mm RB-L编号 工件厚度 t 试块厚度 T 横孔深度位置 横孔直径 RB-L-1 610 8 4 2.0 RB-L-2 1016 14 4、 10 2.0 RB-L-3 1624 20 5、 10、 15 2.0 RB-L-4 2436 30 5、 10、 20、 25 2
9、.0 RB-L-5 3650 45 5、 10、 20、 30、 40 2.0 注：工件厚 度 t 大于 50mm 时，试块宽度应满足 6.3.10.1 的要求，横孔深度位置最小可为 10mm，深度间隔不超过 20mm，试块厚度与工件厚度之差不超过工件厚度的 20%。 附录 J 的图 J.1 更改为新图 J.1： - 5 - a） RB-L-1试块 b） RB-L-2试块 c） RB-L-3试块 - 6 - d） RB-L-4试块 e） RB-L-5试块 新 图 J.1 RB-L系列对比试块示意图（推荐） K.2.1 条 改用新条文 ： K.2.1 “ 对比试块 RB-C 的形状和尺寸见图 K
10、.1。 为方便试块加工和灵敏度调节，也可使用如表 K.1 和图 K.2 的试块 。 ” 11 附录 K 的 图 K.1 后补充 表 K.1 和图 K.2。 - 7 - 表 K.1 RB-C 系列对比 试块尺寸 （推荐） 单位为 mm RB-C 编号 工件厚度 t 试块厚度 T 横孔深度位置 横孔直径 RB-C-1 610 8 4 2.0 RB-C-2 1016 14 4、 10 2.0 RB-C-3 1624 20 5、 10、 15 2.0 RB-C-4 2436 30 5、 10、 20、 25 2.0 RB-C-5 3650 45 5、 10、 20、 30、 40 2.0 注：工件厚度
11、 t 大于 50mm 时，试块宽度应满足 6.3.10.1 的要求，横孔深度位置最小可为 10mm，深度间隔不超过 20mm，试块厚度与工件厚度之差不超过工件厚度的 20%。 a） RB-C-1试块 b） RB-C-2试块 - 8 - c） RB-C-3试块 d） RB-C-4试块 e） RB-C-5试块 图 K.2 RB-C系列对比试块示意图（推荐） 12 附录 K 的表 K.1 序号更改为表 K.2。 - 9 - 13 K.3.2 条 改用新条文 ： K.3.2“ 探头折射角（ K 值）的选择见表 25，探头标称频率可按表 K.2 选择。 ” 14 K.5.1 条 改用新条文 ： K.5.
12、1“ 检测面的选择按 表 K.2 进行。 ” - 10 - 行业标准修改通知单 NB/T 47013.11-2015 承压设备无损检测 第 11 部分： X 射线数字成像 检测 第 1 号修改单 本修改单经国家能源局于 2018 年 5 月 14 日以第 7 号公告批准，自 2018 年 7 月 1日起实施。 第 2 章“ GB/T 23903 射线图像分辨力测试计”后补充新条文： “ GB/T 26592 无损检测仪器 工业 X 射线探伤机性能测试方法 GB/T 26594 无损检测仪器 工业用 X 射线管性能测试方法 ” 第 2 章“ NB/T47013.2 承压设备无损检测 第 2 部分
13、：射线检测”后补充新条文： “ JB/T 11608 无损检测仪器 工业用 X 射线探伤装置 ” 4.1.1 条 中更改用语： “并取得放射工作人员证 ” 更改为“并按照有关法规的要求取得相应证书”。 4.2 条 中更改用语： “检测系统”更改为“检测系统与器材”。 4.2.1.2 条后补充新条文， 4.2.1.3 ： “ 采用的 X 射线机，其性能指标应满足 JB/T11608 的规定，使用性能测试条件及测试方法参考 GB/T26594 和 GB/T26592 的规定。” 4.2.2.4 条改用新条文： 4.2.2.4“坏 像素要求： 面阵列探测器 3 3 像素区域中 ， 相邻坏像素不得超过
14、 3 个；成行（成列）坏像素不得超过 3 个，且不得位于距离中心位置 200 像素以内 ； 成像区域内坏像素不超过总像素的 1%。 线阵列探测器中，相邻的坏像素不 允许 超过 2 个 。 探测器 系统 供应商 应 提供出厂坏像素表和坏像素校正方法。 ” 在 4.2.2.5 后补充新条文， 4.2.2.6 和 4.2.2.7： “ 4.2.2.6 探测器系统性能指标如：坏像素、对比灵敏度、分辨率、 信噪比、 线性范围、厚度宽容度、残影等，其测试条件及测试方法按相应国家或行业标准的规定执行。” “ 4.2.2.7 探测器系统质量合格证中至少应给出探测器类型、转换屏参数（如有）、像素尺寸、成像面积、
15、射线能量适用范围、量子转换效率、填充因子、采集帧频等技术参数 。 ” 4.2.4.6 条 中更改用语： - 11 - “ 根据评定结果 ”更改为“自动”。 4.2.6 条改用新条文 ： 4.2.6 “像质计 4.2.6.1 本部分采用的像质计包括线型像质计和双线型像质计。 4.2.6.2 线型像质计的型号和规格应符合 GB/T 23901.1 的规定 ，双 线型像质计的型号和规格应符合 GB/T 23901.5 的规定。 ” 4.2.6 条后 补充 新条文， 4.2.7、 4.2.8： “ 4.2.7 检测系统使用性能 应结合被检工件和本部分要求，根据 检测 系统各部分性能指标 选择 合适 的
16、 检测设备和器材，并提供满足上述设备和器材性能指标 及系统软件功能 的测试证明文件。检测系统的使用性能应满足本部分规定的图像质量要求。 ” “ 4.2.8 校准或运行核查 4.2.8.1 每年至少对探测器系统性能中的坏像素、线性范围、信噪比、厚度宽容度、残影等进行 1 次校准并记录。 4.2.8.2 每年至少应对使用中的曝光曲线进行 1 次核查。当射线机重要部件更换或经过修理后，应重新制作曝光曲线。 4.2.8.3 每 3 个月至少对探测器坏像素进行 1 次核查，并记录和校正。 4.2.8.4 存在如下情况应进行 系统分辨率 核查并记录，核查 方法按附录 A 执行 。 a）检测 系统 有改变时
17、； b） 正常使用条件下，每 3 个月应至少 核查 一次 ； c）在系统停止使用一个月后重新使用时。 ” 5.4.1.2 条后补充新条文， 5.4.1.3： “由于结构原因不能按照 5.4.1.1 或 5.4.1.2 规定的间隔角度进行多次透照时，经合同双方商定，可不再强制限制 5.4.1.1 或 5.4.1.2 规定的间隔角度，但应采取有效措施尽量扩大缺陷可检出范围，并保证图像评定范 围内信 噪比、灵敏度和分辨率满足要求，并在检测报告中对有关情况进行说明。 ” 11 5.4.2 条改用新条文 ： 5.4.2“不要求 100%检测的小径管环向焊接接头的透照次数由合同双方商定 ，并保存相关记录 。 12 将 6.1.1.3 条中的“ 线型像质计的型号和规格应符合 GB/T 23901.1 的规定 ”删除 。 13 将 6.1.1.4 条中的“双 线型像质计的型号和规格应符合 GB/T 23901.5 的规定 ”删除 。 14 6.1.2.1.2 条中更改用语： “双壁单影透照时”更改为“双壁单影或双壁双影透照 时 ” 15 6.1.3.1 条改用新条文： 6.1.3.1“双线型像质计应放在射线机侧。当采用双壁单影透照方式时，可放在探测器侧。”
