粒度分析技术简介.pptx

粒度分析技术简介,——傅林养,2019年7月2日,粒径的基本概念 粒度分布及其表述 粉体粒度的简约表征—特征粒径 常见粒度测量仪器的原理和性能特点 如何正确选用粒度仪器,2,粒径的基本概念,提到粒径，我们首先想到什么?,已知一个规则长方物体，您会如何表示这个物体？,您可以这样表示: “360x140x120mm”,不过对于复杂三维物体，我们如何使用一个数值来表示这个物体？,3,粒径的基本概念,“颗粒”的定义： “Any condensed-phase tridimensional discontinuity in a dispersed system may generally be considered a particle…” （在一个分散系统中独立的三维个体通常被认为是一个颗粒）,粒度： 颗粒的大小称为粒度，一般颗粒的大小又以直径表示 , 故也称为粒径。用一定方法反映出一系列不同粒径区间颗粒分别占试样总量的百分比称为粒度分布。,4,晶粒：指单晶颗粒，即颗粒内为单相，无晶界。 一次颗粒：指含有低孔隙率的一种独立的粒子。它能被电子显微镜观察到。 团聚体：是由一次颗粒为降低表面势能而通过范德华力或固定的桥键作用形成的更大颗粒。团聚体内含有相互连接的孔隙网络，它能被电子显微镜观察到。 二次颗粒：指人为制造的粉料团聚粒子。,粒径的基本概念,5,Feret 直径 -沿一定方向测得的颗粒投影轮廓两边界平行线间的距离； Martin 直径 - 等分线直径； 最长直径； 最短直径； 等效周长直径 - 同等周长的圆圈直径； 等效投影面积直径 - 与投影面积相同的圆面直径； 等效表面积直径； 等效体积直径；,,粒径的基本概念,6,粒子大小的定义：,用一元数值来表示粒子大小时，这个值就叫做粒子的代表粒径。对于有不同大小粒子分布的粉末体，使用平均粒径统一分析实验值。,,,,“粒子大小”定义方法有许多种，根据定义方法，大小关系有时能够逆转。,,实际测量中仅选择粒子的某一物理量、几何量来表征。,,,,X,Dp,V = Dp3π/6,同样大小体积V,同样大小投影面积S,DP,,,X,S = Dp2 π/4,(a) 几何学的特性,终点下落速度相同,Dp,,,X,,,,,Ut,Ut,Ut = Dp2・g(ρp-ρ)/18μ,X Ξ Dp,X Ξ Dp,(ｂ) 动力学的特性,X Ξ Dp,,,,,,,激光,,,,,,,激光,,,相同图案,(c) 光学的特性,X,Dp,,,,,7,等效直径：,不规则形状的颗粒，颗粒大小取决于测定方法； 每种测定方法仅表征某种特定的物理参数（长度，面积，体积，沉降速度等）； 将该被测物理参数与球形颗粒等效，即为等效直径； 等效直径有多种：筛分直径，Stokes直径，投影直径，体积直径，面积直径，Feret直径等； 有相同直径的颗粒，形状可能完全不同； 粒度分布测量需要足够多的颗粒统计分析；,8,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,等效体积直径,等效表面积直径,等效重量直径,最短直径,最长直径,等效沉降速率直径,筛分直径,等效直径：,9,粒度分布及其表述,刚介绍了粒径的概念，它是一个颗粒大小的量度。而粉体样品时由成万上亿各颗粒组成的，颗粒之间大小互不相同。此时，其大小需要用粒度分布来描述。所谓粒度分布，就是粉体样品中各种大小的颗粒占颗粒总数的比例。,公式法： Rosin-Rammler：W(x)=1-exp[-(x/De) N]； 式中De是与x50（中位径）成正比的常熟，N则决定粒度分布的范围，N越大，粒度分布越窄，表示样品中颗粒分布均匀性越好。,10,列表法与图示法：,11,粉体粒度的简约表征—特征粒径,粒度分布可以比较完整、详尽地描述一个粉体样品的粒度大小，但是由于它太详尽，数据量较大，因而不能一目了然。在大多数实际应用场合，只要确定了样品的平均粒度和粒度分布范围，样品的粒度情况也就大体确定了。我们用来描述平均粒度和粒度分布范围的参数叫做特征粒径。,平均粒径： 平均粒径x(p,q)的一般定义如下： 𝑥 𝑝,𝑞 =( 𝑖=1 𝑚 𝑛𝑖 𝑥 𝑖 𝑝)/( 𝑖=1 𝑚 𝑛𝑖 𝑥 𝑖 𝑞) 式中，n1，n2，……，nm表示粒度的颗粒个数分布， 𝑥 𝑖= 𝑥 𝑖−1 𝑥𝑖 ，代表第i粒径区间上颗粒的平均粒径。,12,体积（重量）平均直径x(4，3)： 当p=4，q=3时， 𝑥 4,3 =( 𝑖=1 𝑚 𝑛𝑖 𝑥 𝑖 4)/( 𝑖=1 𝑚 𝑛𝑖 𝑥 𝑖 3) 由于nixi3正比于i粒径区间上颗粒的总体积（重量），所以X（4，3）表示粒径对体积（重量）的加权平均，称为体积平均粒径或重量平均粒径。 颗粒数平均粒径x（1，0）： 当p=1，q=0时， 𝑥 1,0 =( 𝑖=1 𝑚 𝑛𝑖 𝑥 𝑖 )/( 𝑖=1 𝑚 𝑛𝑖 𝑥 𝑖 0) 表示粒径对颗粒个数的加权平均，称为颗粒数平均粒径。 表面积平均粒径x（3，2）： 当p=3，q=2时， 𝑥 3,2 =( 𝑖=1 𝑚 𝑛𝑖 𝑥 𝑖 3)/( 𝑖=1 𝑚 𝑛𝑖 𝑥 𝑖 2) 由于nixi2正比于第i粒径区间上颗粒的表面积，故x（3，2）表示粒径对表面积的平均粒径，称为表面积平均粒径，又称索太尔（sauter）平均粒径。,13,平位径： 中位径记作X50，表示样品中小于它和大于它的颗粒各占50%。可以认为X50是平均粒径的另一种表示形式。在大多数情况下，X50与X（4，3）很接近。只有当样品的粒度分布出现严重不对称时，X50与X（4，3）才表现出显著的不一致。 边界粒径： 边界粒径用来表示样品粒径分布的范围，由一对特征粒径组成， 例如：（X10，X90）、（X16，X84）、（X3，X94）等等。有些人希望用最大颗粒描述粒度分布的上限，实际上这是不科学的。从统计理论上说，任何一个样品的粒度分布范围都可能小到无限小，达到无限大，因此我们一般不能用最小颗粒和最大颗粒来代表样品粒度的上下限，而是用一对边界粒径来表示上下限。 比表面积： 粉体样品的比表面积（SSA）是指单位重量（体积）的样品中所有颗粒的表面积之和。比表面积与表面积平均粒径D（3,2）成反比，即粒径越小，比表面积越大。,14,常见粒度测量仪器的原理和性能特点,激光法 沉降法 筛分法 显微镜法 超声粒度分析 X射线小角散射法 颗粒图像法 空气透过技术 库尔特电阻法,15,激光法是通过一台激光散射的方法来测量悬浮液，乳液和粉末样品颗粒分布的多用途仪器。纳米型和微米型激光料度仪还可以通过安装的软件来分析颗粒的形状。现在已经成为颗粒测试的主流。,激光法,16,激光法特点：,优点 ： 适用性广 , 既可测粉末状的颗粒 , 也可测悬浮液和乳浊液中的颗粒 ; 测试范围宽 , 国际标准 ISO 13320 - 1 Particle Size Analysis 2 LaserDiffractionMeth 2 ods 2 Part1: General Princip les 中规定激光衍射散射法的应用范围为 0.1～ 3000μm; 我们公司的马尔文激光粒度仪可以测量的范围是0.02~2000um；欧美克激光粒度仪的测量范围是0.2～500μm ； 准确性高 , 重复性好 ; 测试速度快 ; 可进行在线测量； 缺点 ：不宜测量粒度分布很窄的样品，分辨率相对较低；,17,激光法应用领域：,应用领域包括制药，生物医药，纳米材料等行业。典型样品：氧化铝/铜/金钢粉、半导体、硅盐等无机材料，聚合物乳胶、乳液、油漆、颜料、药物、甾体等有机体。我们公司主要用于测量钕铁硼气流磨后的粉体及颗粒较大的一些粉末样品；,18,激光法所用的理论：,夫琅禾费理论： 当颗粒直径比入射波长大得多时发生衍射散射,这时由夫琅禾费衍射理论求得的光强度和米氏散射理论求得的光强度大体一致,但前者计算过程较简便,因此当D > >λ时用夫琅禾费衍射理论作为散射理论的近似处理；（优点：不需要知道样品折射率和吸收率；不足：颗粒粒径 <50µm是结果不准确；在大的散射角度，存在次级散射光强；折射率较低 (<1.3)的颗粒 - 散射效果与折射率为1.73物质在水中分散效果类似）； 米氏理论： 当颗粒粒径小于等于波长时，就必须使用米氏理论了。 Mie理论是描述散射现象的严格理论，因此许多国外仪器和部分国产仪器都把“采用全米氏理论”作为仪器的重要优点之一。所谓全米氏理论，是指大颗粒（远远大于光波长，可见光波长范围为0.4～0.7μm）和小颗粒；（小于等于光波长）均采用米氏理论。（需要知道被测样品的折射率、吸收率及分散介质的折射率） 光子相关光谱分析法PCS： 对超细颗粒 ( 如纳米材料 ) 采用激光衍射散射式粒度仪已不能准确测量其粒径 , 应选用根据光子相关光谱技术制备的仪器测量； ( 颗粒粒度在 1 nm ～ 1 μ m),19,激光散射技术分类：,静态光散射法（即时间平均散射）测量散射光的空间分布规律，采用米氏理论。测试的有效下限只能达到50纳米，对于更小的颗粒则无能为力。纳米颗粒测试必须采用“动态光散射”技术； 动态光散射则研究散射光在某固定空间位置的强度随时间变化的规律。原理基于ISO 13321分析颗粒粒度标准方法，即利用运动着的颗粒所产生的动态的散射光，通过光子相关光谱分析法PCS分析颗粒粒径； 按仪器接受的散射信号可以分为衍射法、角散射法、全散射法、光子相关光谱法,光子交叉相关光谱法（PCCS）等。其中以激光为光源的激光衍射散射式粒度仪 ( 习惯上简称此类仪器为激光粒度仪 ) 发展最为成熟 , 在颗粒测量技术中已经得到了普遍的采用。,20,由于激光具有很好的单色性和极强的方向性，所以一束平行的激光在没有阻碍的无限空间中将会照射到无限远的地方，并且在传播过程中很少有发散的现象。如图7所示：,21,粒子的布朗运动导致光强的波动：  当光束遇到颗粒阻挡时，一部分光将发生散射现象。散射光的传播方向将与主光束的传播方向形成一个夹角。颗粒越大，产生的散射光的θ角就越小；颗粒越小，产生的散射光的θ角就越大。散射光的强度代表该粒径颗粒的数量。这样，在不同的角度上测量散射光的强度，就可以得到样品的粒度分布了；,22,向前的散射： 光束通过特殊的广角元件在检测器上测量，在向前的方向（最低测量极限~0.1um），使用的这一设计大约能包含60度范围内的散射角。 向后的散射： 为了获得纳米级颗粒的散射光。必须包含明显更大的角度范围。使用了向后的散射光束，在60到180度的角度范围内作为向后的散射面检测。使用这一设计测量的最低下限为10nm.,23,在光束中的适当的位置上放置一个富氏透镜，在透镜的后焦平面上放置一组多元光电探测器，这样不同角度的散射光通过富氏透镜就会照射到多元光电探头。将这些包含粒度分布信息的光信号转换成电信号并传输到电脑中，通过专用软件用 Mie 散射理论对这些信号进行处理，就会准确地得到所测试样品的粒度分布了。,24,激光粒度分析仪原理：,25,湿法分散系统： 通过机械搅拌、超声波分散和全内置循环三种方式于一体，使样品充分分散，提高样品测试的准确性 干法分散系统： 通过气流分散使样品得到充分分散，提高样品测试准确性。,26,型号：Mastersizer 2000,厂家：英国马尔文（Malvern),马尔文激光粒度仪,1）测量范围：0.02μm~2000μm； 2）精度：Dv50具有±1%； 3）重复性： Dv50具有±1% RSD； 4）样品类型：乳化液、悬浮液和干粉； 5）光路系统：双光路系统提高准确性。,性能特点,27,【一般运用】,粒度分布,对钕铁硼气流磨后的粉体，原辅材料如绿碳化硅微粉、制粉后粉体进行粒度分布测试；下图为绿色荧光粉粉末样品的粒度分析结果：,28,型号：LS-603,厂家：珠海欧美克,欧美克激光粒度仪,①测试范围：0.2～500μm； ②进样方式：湿法，循环进样器和静态样品池；③重复性误差：<3% ；④扫描频率：1000次/秒 ；⑤测试时间：1-2分钟 ；⑥光源种类：氦-氖激光，功率：2.0 mW，波长：0.6328 μm；⑦工作环境：温度：5-35℃，湿度：＜85%；,性能特点,29,【一般运用】,目前主要用于大颗粒荧光粉粒度分析：,30,沉降法,沉降法又分为：沉降天平、光透沉降、离心沉降等。,斯托克斯Stokes 定律 ： 根据不同粒径的颗粒在液体中的沉降速度不同测量粒度分布的一种方法。它的基本过程是把样品放到某种液体中制成一定浓度的悬浮液，悬浮液中的颗粒在重力或离心力作用下将发生沉降。大颗粒的沉降速度较快，小颗粒的沉降速度较慢。斯托克斯Stokes 定律是沉降法粒度测试的基本理论依据；,31,光透原理——Beel定律： 要测量悬浮液中成千上万个颗粒的沉降速度是很困难的，所以在实际应用过程中是通过测量不同时刻透过悬浮液光强的变化率来间接地反映颗粒的沉降速度的。光强的变化率与粒径的关系由比尔定律来描述 。用光透法测量沉降速度是目前比较流行的方法。；,32,优点 ： 该法在涂料和陶瓷等工业中是一种传统的粉体粒径测试方法。已制定的国际标准 ( ISO 3262 Extenders for Paint Specifications andMethods of Test) 对涂料中常用的 21 种体质颜料的粒度分布测试方法 , 测试原理均基于沉降法。 缺点： 测量速度慢：1颗1微米的SiO2（密度2.5)颗粒在20℃的水中在重力作用下沉降1cm需要1小时 被测材料的密度不能太大也不能太小，且能找到与被测试样适用的沉降介质和分散剂 必须严格控制测量温度 不能测量不同密度材料的混合样品 试验条件苛刻，所需其他设备较多，如分析天平，恒温水浴，显微镜，粘度计，比重计，超声波分散器等,33,筛分法,筛分法就是用一套标准筛子如孔直径(mm)：20、10、5.0、2.0、l.0、0.5、0.25、0.1、0.075， 将烘干且分散了的200g有代表性的试样倒入标准筛内摇振，然后分别称出留在各筛子上的土重，并计算出各粒组的相对含量，即得土的颗粒级配。,按照被测试样的粒径大小及分布范围，将大小不同筛孔的筛子叠放在一起进行筛分，收集各个筛子的筛余量，称量求得被测试样以重量计的颗粒粒径分布。 优点 ：成本低，使用容易。 缺点 ：对小于400目（38um）的干粉很难测量。测量时间越长，得到的结果就越小。不能测量射流或乳浊液；在测量针状样品时这会得到一些奇怪的结果。难以给出详细的粒度分布；操作复杂，结果受人为因素影响较大；所谓某某粉体多少目，是指用该目数的筛筛分后的筛余量小于某给定值。如果不指明筛余量，“目”的含义是模糊的，给沟通带来不便。,34,显微镜法,,,测试时将试样涂在玻璃载片上 , 采用成像法直接观察和测量颗粒的平面投影图像 , 从而测得颗粒的粒径。 能逐个测定颗粒的投影面积，以确定颗粒的粒度，测定范围为150～0.4μm，电子显微镜的测定下限粒度可达0.001μm或更小。显微镜法属于成像法，运用不同的当量表示。故而显微镜法的测试结果与其他测量方法之间无直接的对比性。是一种最基本也是最实际的测量方法 , 常被用来作为对其他测量方法的校验和标定。但这类仪器价格昂贵 , 试样制备繁琐 , 测量时间长 , 若仅测试颗粒的粒径 , 一般不采用此方法。但若既需要了解颗粒的大小还需要了解颗粒的形状、结构状况以及表面形貌时 , 该方法则是最佳的测试方法。,35,超声粒度分析,超声波发生端（RF Generator）发出一定频率和强度的超声波，经过测试区域，到达信号接收端（RF Detector）。当颗粒通过测试区域时，由于不同大小的颗粒对声波的吸收程度不同，在接收端上得到的声波的衰减程度也就不一样，根据颗粒大小同超声波强度衰减之间的关系，得到颗粒的粒度分布，同时还可测得体系的固含量。,36,射线的波长比纳米还要短，因此X射线小角散射是一种测量纳米颗粒的理想方法 ；,X射线小角散射法,37,颗粒图像法,颗粒图像法有静态、动态两种测试方法： 静态方式使用改装的显微镜系统，配合高清晰摄像机，将颗粒样品的图像直观的反映到电脑屏幕上，配合相关的计算机软件可进行颗粒大小、形状、整体分布等属性的计算； 动态方式具有形貌和粒径分布双重分析能力。重建了全新循环分散系统和软件数据处理模块，解决了静态颗粒图像仪的制样繁琐、采样代表性差、颗粒粘连等缺陷；,38,图像解析法：,开始,,取样,,粒子像摄影,,图像处理,,抽取特征处理,,计算统计粒子径分布,,结束,,,,平滑化、去除微粒子（噪声）、分离、圆形分离、细线化、强调、边界检出等等,面积(等效径)、周长、最大长、形状参数等等,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,39,原理： 从频闪光源发出的频闪光，经过光束扩束器，得到平行的频闪光，在测试区域频闪光照射在分散好的单个颗粒上，经过拥有专利的光学成像系统，得到每个颗粒清晰的图像和全部样品的粒度分布。,40,空气透过技术（费氏法）,原理：粉末样品的气体透过能力与粉末的比表面有关，籍此求出样品的比表面积并由此得到颗粒的平均粒度 样品要求：均匀干燥，形状等轴性好，施压时不易变形，破碎或聚结 取样量应为试样真密度的两倍以上，且真密度已知 常用于质量或生产控制的基本判断，设备简单，操作方便 缺点：分辨率低，重现性差，人为因素影响较大,41,库尔特电阻法,,,,,,库尔特电阻法在生物等领域得到广范应用已经成为磨料和某些行业的测试标准。根据颗粒在电解液中通过某一小孔时，不同大小颗粒导致孔口部位电阻的变化，由此颗粒的尺寸大小由电阻的变化加以表征和测定。可以测得颗粒数量，因此又称库尔特计数器，测量精度较高，重复性好，但易出现孔口被堵现象，通常范围在0.5～100微米之间。,电阻法仪器都采用负压虹吸方式,迫使样品通过宝石微孔。小圆柱形宝石微孔内充满介质形成恒定的液态体电阻( R0 ) ,当样品中有一个直径为d 圆球形标准粒子通过宝石微孔的瞬间,由于微粒的电阻率大于介质的电阻,就产生电阻增量ΔR ,根据库尔特公式因此电阻法传感器输出电压脉冲也与微粒的体积成正比。,42,优点： 分辨率高：能分辨各颗粒之间粒径的细微差别。分辨率是现有各种粒度仪器中最高的。 测量速度快：测一个样品一般只需30Sec左右。 重复性较好：一次要测量3万个左右的颗粒，代表性较好，测量重复性较高。 操作简便：整个测量过程基本上自动完成，操作简便。 缺点： 动态范围较小：对同一个小孔管来说，能测量的最大和最小颗粒之比约为20：1； 容易发生堵孔故障。 测量下限不够小：现实中能用的小孔管最小孔径为30μm左右，因而测量下限为0.6μm左右；（测量范围为2%~60%） 独立地线及电解液要求高，噪音要求小于最小测量值；,43,【一般运用】,44,测试结果差别产生的原因： 同一个样品，不同的厂家往往测出不同的结果,是一个普遍现象。 原因有： 仪器原理不同。不同原理的仪器所测出的等效粒径不同，所以测试结果不同。 不同厂家生产的仪器，即使是同类的仪器，由于设计方法、加工精度、数据处理等方面的不同，所得到的结果也往往存在差异。 使用方法不当。比如激光粒度仪需要选择适当的折射率；对分档的仪器要选择适合所测样品分布的档等。 样品制备方法不当。,疑问点解答：,45,对策 不同原理的仪器的测试结果不同是正常的，这主要是因为颗粒是非球形的，而不同原理的仪器所测的是颗粒的不同的侧面，所以会得到不同的测试结果。所得到的结果都是正确的。这时双方应先统一测试条件，通过测试找出一个差值。经过双方测试合格的样品应作为工作标样各自保留，以便随时校验双方的测试方法和仪器。 原理相同，生产厂家不同的仪器，测试结果也可能有一定的差异，这种情况下只要仪器稳定，测试条件正确，也可以用上述办法来统一测试结果。 操作方面的原因也是影响测试结果的重要原因。所以面对一个有争议的粒度测试数据，还要关注操作方面的原因。,46,误差分析与判断,试样制备： 不正确的取样技术和/或不合适的传输装置，导致颗粒没有完全通过光路 不正确的分散方式（液体介质，分散剂和超声波），导致团聚颗粒不充分分散，或使不该破碎的颗粒被粉碎 测量前或期间，试样中含有气泡，颗粒长大，再团聚，溶解或蒸发，或者温度变化导致折射系数的改变 理论上的偏离 球形假设的偏离，导致粒径分布加宽 颗粒表面并非光滑，折射系数中虚部常依赖于光的波长而变得更加不确定,47,误差分析与判断,颗粒对光的作用通常是不均匀的，如多孔性材料，会导致大量细小颗粒的明显出现，但实际并不存在 错误的光学模型，如使用夫朗和费模型计算亚微米级的试样 不正确的光学参数，导致散射谱图的错误解析 对理论模型约束条件的正确选用，依赖于制造商的仪器设计，检测器的排布，信噪比的处理和经验积累,48,分散技术,试样检查：凭视觉或借助显微镜检查试样的分散状态 代表性取样：采用特定的分样技术，准备足够量的代表性试样。必要时，利用筛分技术去除超出量程的粗大颗粒并作好记录 液体分散：选择合适的分散介质，比要时添加相应的分散剂辅助分散。涂抹，搅拌和超声波等都是常用的分散手段 干粉分散：保证足够多的试样，避免粗大颗粒的统计劣势；根据样品性质，选择合适的进样方式；压缩空气须除油，除水；调节空气压力和真空度，产生适当的剪应力,49,浓度控制,测量光路中应有一定的颗粒浓度以保证仪器最低的信噪比，同时，为避免复杂散射，测定浓度也应有上限 一般说来，浓度范围受到激光束宽度，测量区路径长度，颗粒的光学特性和检测器灵敏度的影响 颗粒的分布宽度直接影响试样的最佳测量浓度 为确定颗粒的最佳浓度范围，应在不同颗粒浓度下进行多次测量 湿法分散时，避免空气泡对浓度的影响；干法测量也应保证稳定的物质流,50,测试范围：测试范围是指粒度仪的测试上限和下限之间所包含的区域实际样品的粒度范围最好在仪器测量范围的中段。测试范围要留有一定的余量。 2) 重复性：重复性是仪器好坏的主要指标。通过实际测量的方法来检验仪器的重复性是最真实的。比较重复性时一般用 D10、D50、D90 三个数值。 3) 用途：由于不同粒度仪的性能各有所长，可以根据不同的需要选择更适合的仪器。比如测试量多和样品种类多的就要用激光法粒度仪，测试量少和样品单一的可以选择沉降法粒度仪，需要了解颗粒形貌和其它特殊指标的选用图像仪等。 4)与行业习惯和主要客户保持一致：由于粒度测试的特殊性，不同粒度仪的测试结果往往会有偏差。为减少不必要的麻烦，应选用与行业习惯和主要客户相同（原理相同甚至型号相同）的粒度仪。,如何正确选用粒度仪器,51,Thanks !,福建省长汀金龙稀土有限公司,Fujian Changting Golden Dragon Rare-Earth Co., Ltd.,福建省长汀经济开发区工业新区,Industrial New Developed Zone, Changting, Fujian Province, China,Tel: 0597-3160681,Fax: 0597-6832800,