1、射线透照工艺,中国工业检验检测网http:/,射线透照工艺,射线透照工艺是指为达到标准要求而对射线透照过程规定的方法、程序、技术参数和技术措施等。工艺条件是指透照过程中的有关参变量及其组合。透照工艺条件包括设备器材条件、透照几何条件、工艺参数条件和工艺措施条件等。,中国工业检验检测网http:/,射线能量,射线源的选择 射线源的选择的首要因素是射线源所发出的射线对被检试件具有足够的穿透力。 对X射线来说，穿透力取决于管电压。 对射线来说，穿透力取决于放射源的种类X射线照相应尽量选用较低的管电压。在采用较高管电压时，应保证适当的曝光量,中国工业检验检测网http:/,不同材料、不同透照厚度允许采
2、用的最高射线管电压,图中规定了不同材料 不同透照厚度允许的最高透照管电压1-铜及铜合金；2-钢；3-钛及钛合金； 4-铝及铝合金,-,中国工业检验检测网http:/,不同材料允许采用超过的最高射线管电压,但JB/T4730-2005也规定了对截面厚度变化大的工件，在保证灵敏度要求的前提下，允许采用超过图中规定的射线管电压。对钢、铜及铜合金管电压增量不应超过50kV；对钛及钛合金管电压增量不应超过40kV；对铝及铝合金管电压增量不应超过30kV。,中国工业检验检测网http:/,射线源和高能射线适用的透照厚度范围应符合表中的规定,中国工业检验检测网http:/,射线源透照厚度下限值范围,采用源在
3、内中心透照方式，在保证像质计灵敏度达到要求的前提下，允许射线最小透照厚度取表中下限值的二分之一。采用其他透照方式，在采取有效补偿措施并保证像质计灵敏度达到要求的前提下，经合同各方同意，Ir-192源的最小透照厚度可降至10mm， Se-75源的最小透照厚度可降至5mm。,中国工业检验检测网http:/,射线能量的选择应考虑的基本条件是,根据被照工件厚度，在射线能穿透工件的前提下，尽量采用较低管电压和正确选择辐射源，同时亦要考虑曝光时间，工作效率及X光机的利用率等各方面因素，以得到较高灵敏度的底片,中国工业检验检测网http:/,射线源种类对缺陷检出率的影响,射线源种类对裂纹检出率有很大影响，试
4、验和实践均表明：x射线底片的对比度、清晰度、颗粒度均优于射线底片。任一种射线源，即使是能量较低的Ir192、Se75，在其最合适的厚度上应用，其照相灵敏度和成像质量仍然不如x射线。因此，从提高射线照相灵敏度和裂纹检出率的角度考虑，选择射线源应优先选x射线机。但由于条件限制，很多情况下射线照相只能采用射线源，这时应在透照布置、透照器材选用、透照参数选择、散射线屏蔽等方面采取措施，尽量提高照相灵敏度，其中最有效措施之一是使用梯噪比等级更高的胶片。,中国工业检验检测网http:/,焦距的选择,焦距对射线照相灵敏度的影响主要表现在几何不清晰度上。由公式： Ug=dfL2/(F- L2) 可知，焦距越大
5、，Ug值越小，底片上的影像越清晰。为保证射线照相的清晰度，标准对透照距离的最小值有限制。JB/T4730-2005标准规定的透照距离L1与焦点尺寸df和透照厚度L2应满足一定的要求。,中国工业检验检测网http:/,不同像质等级允许的透照距离L1和 Ug值,像质等级 透照距离L1 Ug值 A 级射线检测技术： L1 7.5dL2 2/3 Ug 7.5dL2 2/3AB级射线检测技术： L1 10dL2 2/3 Ug 7.5dL2 2/3B 级射线检测技术： L1 15dL2 2/3 Ug 7.5dL2 2/3,中国工业检验检测网http:/,L1-射线源至工件表面的最小距离； L2-胶片至工件
6、表面的最大距离；d-射线源的有效焦点尺寸； F-射线源至D胶片距离（焦距 F= L1+ L2）射线源至工件表面的距离L1可按下列方式确定 a)可用公式计算确定 b)可根据各级别射线检测技术的诺模图来确定,中国工业检验检测网http:/,确定源至工件表面的最小距离L1的诺模图,中国工业检验检测网http:/,当采用源在内中心透照方式周向曝光时，而且底片质量符合JB/T4730-2005标准的要求， f 值可以减小，但减小值不应超过规定值的50%。当采用源在内单壁透照方式时，而且底片质量符合JB/T4730-2005标准的要求f 值可以减小, 但减小值不应超过规定值的20%。,中国工业检验检测网h
7、ttp:/,这样规定，是为了使人们在单壁透照和双壁透照两种透照方式之间选择时，能尽可能多采用单壁透照；在源在内单壁透照和源在外单壁透照之间选择时，能尽可能多采用源在内单壁透照方式。单壁透照比双壁透照的灵敏度高得多，其灵敏度增量足以弥补f值减小，几何不清晰度增大造成的灵敏度损失。比较源在内单壁透照方式和源在外单壁透照方式，前者比后者有更小的横向裂纹检出角或更大的一次透照长度，底片上的黑度也更均匀。因此，将f值适量减小从而能选择源在内单壁透照方式对照相灵敏度和缺陷检出是有利的。,中国工业检验检测网http:/,选择透照焦距时应考虑哪些因素,(1)焦距的选择应满足几何不清晰度的要求(2)焦距的选择还
8、应保证在满足透照厚度比K的条件下，有足够大的一次透照长度L3, (3)为减少因照射场内射线强度不均匀对照相质量的影响，焦距取大一些为好。(4)由于射线强度与距离平方成反比，焦距的增加必然使曝光时间大大延长，因此焦距也不能过大。,中国工业检验检测网http:/,曝光量,曝光量可定义为辐射强度和时间的乘积，对X射线来说，曝光量是指管电流i与照射时间t的乘积（E=it），对射线来说，曝光量是指放射源活度A与照射时间t的乘积（E=At）。曝光量是射线透照工艺中的一项重要参数。射线照相影像的黑度取决于胶片感光乳剂吸收的射线量。如固定各项透照条件，则可以通过改变曝光量来控制底片黑度。曝光量不只影响影像的黑
9、度，也影响影像的对比度和颗粒度以及信噪比，为保证射线照相质量，曝光量应不低于某一最小值。主要是避免采用高kV短时间带来的影响。,中国工业检验检测网http:/,曝光量的推荐值,采用射线照相，当焦距为700mm时，曝光量的推荐值为： A级和AB级射线检测技术不小于15mAmin； B级射线检测技术不小于20mAmin。当焦距改变时可按平方反比定律对曝光量进行换算。以AB级为例：当焦距700mm时，曝光量应大于或等于15mAmin、 当焦距大于700mm时，曝光量应大于15mAmin、 当焦距小于700mm时，曝光量可小于或等于15mAmin、 焦距改变时按平方反比定律对曝光量的推荐值进行换算。例
10、：当焦距为600mm时，按平方反比定律对曝光量进行换算后曝光量应 大于或等于11mAmin。采用射线源透照时, 总的曝光时间至少应不小于输送源往返所需时间的10倍,中国工业检验检测网http:/,利用曝光因子进行曝光量计算,利用曝光因子进行曝光量计算的依据互易律互易律是光化反应的一条基本定律，它指出： 决定光化反应产物质量的条件，只与总的曝光量相关，即取决于辐射强度和时间的乘积，而与这两个因素的单独作用无关。 互易律可引伸为底片黑度只与总的曝光量相关，而与辐射强度和时间分别作用无关。,中国工业检验检测网http:/,平方反比定律,平方反比定律是指射线强度与距离的平方成反比的规律，其数学式为I2
11、/I1=（F1/F2）2其原理是：近似认为射源是一个点，在其照射方向上的任意立体角内取任意垂直截面，单位时间内通过的光量子总数是不变的，但是由于截面积与到射源的距离的平方成正比，所以单位面积的光量子密度，即射线强度与距离的平方成反比。,中国工业检验检测网http:/,曝光因子,曝光因子是一个用来确定曝光参数的物理量，其形式为： X射线曝光因子=管电流时间/距离2=mAmin/cm2,射线曝光因子=射源强度时间/距离2=cimin/cm2, 对同一台射线机或同一个放射同位素来说，只要曝光因子值不变，照相的曝光量也就不变，摄得底片黑度必然相同。因此，对射线强度、时间和距离叁个参数，如果实际透照时需
12、要改变一个或两个参数，便可用曝光因子计算其他参数，从而保证照相曝光量不变。,中国工业检验检测网http:/,例题：,焦距为1米时需要的曝光量为100毫安分，若将焦距缩短到0.8米时，需要的曝光量为多少？解：I2=(F2/F1)2I1=(0.8/1)2100=64毫安分 某工件射线照相的管电压为200KV，管电流为4mA，曝光时间为4min，焦距为600mm，如焦距改为900mm，管电压不变，欲保持原来的底片黑度，如何选用管电流和曝光时间？解：已知：i1=4mA，t1=4min，F1=600mm，F2=900mm，求：i2，t2 =i1t1/F12=i2t2/F22 i2t2=i1t1F22/F
13、12=44(900/600)2=36mAmin 答：焦距改为900mm后的曝光量是36mAmin。可选择管电流为4mA,曝光时间为9min。,中国工业检验检测网http:/,透照某工件，用铅增感屏，当管电压250KV，管电流5mA，曝光时间5min，焦距600mm时，底片黑度2.0，现改管电流为6mA，焦距800mm，其他条件不变，求曝光时间为多少可以保持黑度不变？解：已知i1=5mA，t1=5min，f1=600mm，i2=6mA，f2=800mm，求t2=? 由曝光因子公式：i1t1/f12=i2t2/f22 得t2=7.4min,中国工业检验检测网http:/,透照某工件，采用铅增感，当
14、焦距为600mm，管电流5mA，曝光5min时，底片黑度为1.2；若焦距改为1200mm，管电流10mA，底片黑度达到2.0，所需要的曝光时间为多少？（假定底片黑度由1.2提高到2.0时，曝光量增加50%）解：已知F1=600mm，F2=1200mm，I1=5mA，I2=10mA，t1=5min，=50%，求t2。设E2为焦距改为1200mm且黑度仍为1.2的曝光量，则E2=I1t1（F2/F1）2=5x5x(1200/600)2=100mAmin，设E2为黑度由1.2提高到2.0时的曝光量，则有： E2=E2（1+）=150mAmin，t2=E2/I2=150/10=15min,中国工业检验
15、检测网http:/,采用铅箔增感透照工件，管电流5mA，焦距为650mm，曝光时间为4分钟，底片黑度为1.5，若管电流与管电压不变，焦距改为800mm，底片黑度为2.5，问曝光时间应选几分钟？（设使黑度由1.5提高到2.5时，曝光量应增加45%）解：已知i1=5mA=i2，t1=4min，f1=650mm，f2=800mm，求t2=? 由曝光因子公式：i1t1/f12=i2t2/f22 得t2=6.1 min设T2为黑度由1.5提高到2.5时的曝光时间，则： T2=T2（1+）=8.8min,中国工业检验检测网http:/,用一Ir192 源透照某工件，焦距500mm，曝光12min可得到合格
16、底片黑度，86天后 仍用该源透照同样的工件，焦距1000mm，需曝光多少时间？解：n=86/75=1.15 A2/A1=(1/2)1.15=0.45t2=A1f22/A2f12t1=1/0.45(1000/500)212 = 106min答：86天后透照同一工件需曝光106min。,中国工业检验检测网http:/,离Ir192射线源0.5m处测得照射率为16R/h，在此处透照板厚20mm，余高磨平的钢焊缝，若钢的半价层为10mm，250mR的照射量可得适当黑度，则每张胶片的曝光时间为多少？解：I=I0(1/2)n=16(1/2)20/10=4R/h=66.6mR/minE=IT T=E/I=2
17、50/66.6=3.75min答：应曝光3.75min。,中国工业检验检测网http:/,从胶片特性曲线得知，某胶片在黑度为1.2时，相对曝光量为2.08，黑度为2.0时相对曝光量为2.28，如黑度为1.2时的曝光量为15mAmin，求黑度2.0所求曝光量。解：已知：D1=1.2，D2=2.0，E1=15mAmin，lgE1=2.08，lgE2=2.28，求：E2 曝光量修正系数 D=E2.0/E1.2=(10)2.28-2.08=100.20 E2.0=DE1.2=(10)0.215=24mAmin答：黑度增至2.0时的曝光量为24mAmin。,中国工业检验检测网http:/,使用天津工业I
18、II型胶片，管电流和曝光时间的乘积为15mAmin时，底片黑度为1.5，如果其他条件不变，只改用天津工业V型胶片，则要用多大曝光量才能保持底片黑度仍为1.5？（由胶片特性曲线查得黑度为1.5时，III型和V型胶片对应的管电流和曝光时间的乘积分别是200mAsec和1000mAsec）解：已知III型E3=15mAmin，III型D3=1.5，E30=200mAsec，V型D5=1.5，E50=1000mAsec，求E5=?E3/E5=E30/E50即E5=E50E3/E30=1000x15/200=75mAmin,中国工业检验检测网http:/,透照方式的选择和一次透照长度 的确定方法,应根据
19、工件的特点和技术条件的要求选择适宜的透照方式。在可以实施的情况下应选用单壁透照方式,在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式。透照时射线束中心一般应垂直指向透照区中心，需要时也可选用有利于发现缺陷的方向透照。,中国工业检验检测网http:/,注：（1）单壁透照最有利于发现缺陷，但并不是 最便捷的透照方法。（2）对在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式要有正确的理解，不能实施时主要针对工况条件和检验检测单位的资源条件而言，不是指最佳的透照方式。（3）一次透照长度与检测技术级别有关。（4）透照方式不能任意选取，在可以实施的情况下应选用单壁透照方式。,中国工业检验检测网http:/,透照方法,
20、透照方法分为：直缝透照法：单壁透照法；双壁透照法 环缝透照法：单壁透照法-外壁透照法；内壁透照法（中心法，偏心法） 双壁透照法-双壁单影（斜透法，直透法）； 双壁双影 （斜透法，直透法）,中国工业检验检测网http:/,透照方式的选择,选择透照方式时应综合考虑各方面的因素，需考虑的因素主要有这几方面：a)透照灵敏度； b)缺陷检出特点： c) 透照厚度差和横向裂纹检出角d）一次透照长度 e)操作方便性 f)工件和设备条件的具体情况,中国工业检验检测网http:/,一次透照长度的确定,一次透照长度是指焊缝射线照相中一次透照的有效长度。实际工作中一次透照长度的确定受两个方面因素的限制： 一个是射线
21、的有效照射场的范围；另一个是射线照相标准的有关规定。一次透照长度以透照厚度比K控制。不同级别射线检测技术和不同类型对接焊接接头的透照厚度比应符合表中的规定。整条环向对接焊接接头所需的透照次数可参照JB/T4730-2005标准规定附录B（资料性附录）的曲线图确定。,中国工业检验检测网http:/,各级别允许的透照厚度比K值,中国工业检验检测网http:/,由表可知，对纵向焊接接头和De400mm的环向焊接接头，JB4730-2005标准与94版的K值要求没有变化，只有对De400mm的容器或管子的环向焊接接头，允许的透照厚度比K从1.1放宽至1.2。K值放宽的理由是：近年来研究表明，透照角度不
22、是裂纹检出最关键因素，也就是说，从理论上看，控制K值的重要性有所下降（最关键因素：裂纹开口宽度）；国外标准或不考虑K值（美ASME），或将K值放宽（欧EN143:5 1997： K，A级：K1.2，B级：K1.1）；对De400mm的容器或管子，K = 1.1的一次透照长度太小，效率过低，成本过高。不过，对重要设备、结构、特殊材料和特殊焊接工艺制作的焊接接头，如认为有必要，K值控制仍可从严，因为标准对K值用的是“等于”或“小于”。,中国工业检验检测网http:/,直缝透照法的一次透照长度的 确定方法, K=T/T 对A级；AB级 K 1.03 L30.5L1 对B级 K 1.01 L30.3L
23、1搭接长度 L=L2L3/L1 当L30.5L1时 L=0.5L2 ； 当L30.3L1时 L=0.3L2 ；底片的有效评定长度 Leff=L3+L实际透照时，如搭接标记按标准规定摆放在一次透照长度区域的两端，则底片上搭接标记之间长度即为有效评定长度。,中国工业检验检测网http:/,环缝透照法的一次透照长度的 确定方法,可根据各级别允许的透照厚度比K值查图确定环缝的透照次数和一次透照长度。实际透照时，如搭接标记按标准规定摆放在一次透照长度区域的两端，则底片上搭接标记之间长度即为有效评定长度。 例：P136页上例(2)已知：K=1.1 L1=700mm D=1250mm T=25mm T/D=
24、25/1250=0.02 D/f=1250/700=1.79 查表得： 透照次数 N=14 L3=280.5 L3=269.3,中国工业检验检测网http:/,环缝透照法：,外壁单壁透照法K 1.1 时的透照次数可根据 T/D 和 D/f的值，查表的方法确定,中国工业检验检测网http:/,环缝透照法：,其他透照方式K 1.1 时的透照次数可根据 T/D 和 D/f的值，查表的方法确定,中国工业检验检测网http:/,从保证探伤质量的角度比较各种 透照方式的优劣,从提高像质计灵敏度，减小透照比K和横向裂纹检出角以及保证一次透照长度L3等方面评价，几种透照方法优劣比较如下：单壁透照优于双壁透照；
25、双壁单影优于双壁双影；环缝单壁透照时，源在内中心法优于源在内偏心法，源在内优于源在外。,中国工业检验检测网http:/,小径管环向对接焊接接头的 透照方式,小径管（D 100mm）采用双壁双影透照方式；当同时满足下列两条件时应采用倾斜透照方式椭圆成像：a) T（壁厚）8mm； b) g（焊缝宽度）Do /4椭圆成像时，应控制影像的开口宽度（上下焊缝投影最大间距）在1倍焊缝宽度左右。不满足上述条件或椭圆成像有困难时可采用垂直透照方式重叠成像。,中国工业检验检测网http:/,小径管环向对接焊接接头的 透照次数,小径管环向对接焊接接头100%检测的透照次数：采用倾斜透照椭圆成像时， 当T/ Do0
26、.12时,相隔90透照2次。 当T/ Do0.12时,相隔120或60透照3次。垂直透照重叠成像时，一般应相隔120或60透照3次。由于结构原因不能进行多次透照时，可采用椭圆成像或重叠成像方式透照一次。鉴于透照一次不能实现焊缝全长的100%检测，此时应采取有效措施扩大缺陷可检出范围，并保证底片评定范围内黑度和灵敏度满足要求。,中国工业检验检测网http:/,JB/T4730-2005标准对小径管环向对接焊接接头的透照是采用倾斜透照方式椭圆成像还是垂直透照方式重叠成像规定了具体的条件。JB/T4730-2005标准和GB3323-87标准相比有很大的差别。,中国工业检验检测网http:/,注：（
27、1）小径管的透照次数与管外径和壁厚有关，与检测技术级别无关（2）规定小径管的透照次数的主要目的是控制透照厚度比（3）结构： 一般系指排管或盘管（4）为控制影像的开口宽度应采用偏心距法（5）扩大缺陷可检出范围的有效措施一般包括：双胶片技术、适当提高管电压、窗口加滤波板（6）当Do 20mm、T 8mm 、g Do /4及重点检查根部裂纹或未焊透时应采用垂直透照,中国工业检验检测网http:/,采用射线源水平位移的方法透照焊缝宽度10mm，加强高2mm的38x4mm钢管对接环焊缝，焦距为600mm，按规程要求在底片上环焊缝椭圆成像的上下焊缝间距为5mm，应如何确定射源至焊缝中心的水平距离B？解：已
28、知f=600mm，a=40mm，b=15mm，根据相似三角形原理：B/b=f/a 得到B=fb/a=600x15/40=225mm，则：B=B-5-(10/2)=215mm，即先确定焊道中心点对正射源中心，然后保持焦距不变平移215毫米。,中国工业检验检测网http:/,透照51x3.5mm的小口径管对接环焊缝，焊缝宽度10mm，要求椭圆开口间距为5mm，使用焦距为700mm，射线源的水平移动距离应为多少？（水平移动距离=射线源至焊缝边缘垂直线的距离，已知焊缝单面加强高2mm）解：已知EF=700mm BC=51+2=53mm AB=10+5=15mm 求平移量CD由图可知FCDABC 则 F
29、D:BC=CD:ABFD= EF-BC CD=(EF-BC)AB/BC =(700-53)15/53=183.1mm,中国工业检验检测网http:/,曝光曲线,曝光曲线的用途曝光曲线用于选择曝光参数，以提高工效，保证射线透照质量。曝光曲线主要分为两种：曝光量和管电压随材料厚度变化的曝光曲线，以及管电压随材料厚度变化的曝光曲线,中国工业检验检测网http:/,曝光曲线是在机型、胶片、增感屏、焦距等条件一定的前提下，通过改变曝光参数透照由不同厚度的阶梯试块，根据给定冲洗条件处理出的底片所达到的某一基准黑度，得到的kV、mA、T三者之间关系的曲线。对每台在用的射线设备均应做出经常检测材料的曝光曲线，
30、依据曝光曲线确定曝光参数。,中国工业检验检测网http:/,制作曝光曲线所采用的胶片、增感屏、焦距、射线能量等条件和底片应达到的灵敏度、黑度等均应符合标准的规定。对使用中的曝光曲线，每年至少应校验一次。射线设备更换重要部件或经较大修理后应及时对曝光曲线进行校验或重新制作。,中国工业检验检测网http:/,典型的X射线曝光曲线,中国工业检验检测网http:/,典型的Ir-192 射线曝光曲线,中国工业检验检测网http:/,材质改变时曝光参数的换算,要使某种材料的曝光曲线适用于其他材料的透照，可利用射线透照等效系数进行厚度换算。例：220KV的X射线透照厚度32毫米钢件需要曝光量30mAmin,
31、可得黑度2.0，今用此曝光量透照铜板，其他条件相同，已知铜对钢的等值系数为1.4，则可透照多厚的铜板能得到相同黑度？32/1.4=22.86mm,中国工业检验检测网http:/,220KV的X射线透照厚度32毫米钢件需要曝光量30mAmin,可得黑度2.0，今透照同样厚度的铜板，其他条件相同，已知铜对钢的等值系数为1.4，则需要多大的曝光量能得到相同黑度？30x1.4=42mAmin,中国工业检验检测网http:/,无用射线和散射线屏蔽,散射线的来源和分类受射线照射的各种物体都会成为散射源，但强度最大，对探伤质量影响最大的散射源是试件本身。散射线一般按散射方向分类，来自胶片暗盒正面（射源方向）
32、的散射称作“前散射”或“正向散射”，来自胶片暗盒后面的散射称作“背散射”散乱射线将影响底片质量，使底片灰雾度增大甚至完全模糊。,中国工业检验检测网http:/,常用控制散射线的方法,(1)使用铅箔增感屏，吸收部分前散射和背散射线。(2)暗盒后衬铅板，进一步减少背散射。(3)使用铅罩和铅光阑，限制照射范围，减少散射源。(4)采用铅遮板或钡泥屏蔽试件边缘，减少“边蚀”效应。(5)用流质吸收剂或金属粉未对形状不规则及厚度差较大的试件进行厚度补偿，以减少较薄部分散射线对较厚部分的影响。(6)采用滤板滤去射线中线质较软的部分，减少“边蚀”效应。(7)减少或去除焊缝余高，降低焊缝部位散射比。,中国工业检验
33、检测网http:/,JB/T4730-2005标准规定：应采用金属增感屏、铅板、滤波板、准直器等适当措施，屏蔽散射线和无用射线，限制照射场范围。对初次制定的检测工艺或使用中检测工艺的条件、环境发生改变时,应进行背散射防护检查。检查背散射防护的方法是：在暗盒背面贴附“B”铅字标记，一般B铅字的高度为13mm、厚度为1.6mm,按检测工艺的规定进行透照和暗室处理。若在底片上出现黑度低于周围背景黑度的“B”字影像， 则说明背散射防护不够, 应增大背散射防护铅板的厚度。若底片上不出现 “B”字影像或出现黑度高于周围背景黑度的“B”字影像，则说明背散射防护符合要求。,中国工业检验检测网http:/,像质
34、计的使用,像质计一般应放置在工件源侧表面焊接接头的一端（在被检区长度的1/4左右位置）,金属丝应横跨焊缝，细丝置于外侧。当一张胶片上同时透照多条焊接接头时,像质计应放置在透照区最边缘的焊缝处。,中国工业检验检测网http:/,像质计放置原则,a) 单壁透照规定像质计放置在源侧。双壁单影透照规定像质计放置在胶片侧。双壁双影透照像质计可放置在源侧，也可放置在胶片侧。 b) 单壁透照中，如果像质计无法放置在源侧，允许放置在胶片侧。 c) 单壁透照中像质计放置在胶片侧时，应进行对比试验。对比试验方法是在射源侧和胶片侧各放一个像质计，用与工件相同的条件透照，测定出像质计放置在源侧和胶片侧的灵敏度差异，以
35、此修正应像质计丝号，以保证实际透照的底片灵敏度符合要求。d) 当像质计放置在胶片侧时，应在像质计上适当位置放置铅字“F”作为标记， “F”标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告中注明。,中国工业检验检测网http:/,原则上每张底片上都应有像质计的影像。当一次曝光完成多张胶片照相时，使用的像质计数量允许减少但应符合以下要求: a) 环形对接焊接接头采用源置于中心周向曝光时，至少在圆周上等间隔地放置3个像质计； b) 一次曝光连续排列的多张胶片时，至少在第一张、中间一张和最后一张胶片处各放置一个像质计。,中国工业检验检测网http:/,小径管可选用通用线型像质计或JB/T47
36、30-2005附录F（规范性附录）规定的专用（等径金属丝）像质计，金属丝应横跨焊缝放置。底片上，在黑度均匀区（一般是邻近焊缝的母材金属区）能够清晰地看到长度不小于10mm的连续的金属丝影像时，则该丝认为是可识别的。专用像质计至少应能识别二根金属丝。,中国工业检验检测网http:/,标记,透照部位的标记由识别标记和定位标记组成。标记一般由适当尺寸的铅（或其他适宜的重金属）制数字、拼音字母和符号等构成。识别标记一般包括：产品编号、对接焊接接头编号、部位编号和透照日期。返修后的透照还应有返修标记,扩大检测比例的透照还应有扩大检测标记。定位标记一般包括中心标记和搭接标记。中心标记指示透照部位区段的中心
37、位置和分段编号的方向,一般用十字箭头“ ”表示。搭接标记是连续检测时的透照分段标记，可用符号“”或其他能显示搭接情况的方法表示。标记一般应放置在距焊缝边缘至少5mm以外的部位，搭接标记放置的部位还应符合JB/T4730-2005附录C（规范性附录）的规定。所有标记的影像不应重叠，且不应干扰有效评定范围内的影像。,中国工业检验检测网http:/,编制无损检测工艺规程,无损检测工艺规程包括通用工艺规程和工艺卡。 无损检测通用工艺规程无损检测通用工艺规程应根据相关法规、产品标准、有关的技术文件和本部分的要求，并针对检测机构的特点和检测能力进行编制。无损检测通用工艺规程应涵盖本单位（制造、安装或检测单
38、位）产品的检测范围。,中国工业检验检测网http:/,无损检测通用工艺规程至少应 包括以下内容,a）适用范围； b）引用标准、法规 c）检测人员资格；d） 检测设备、器材和材料；e） 检测表面制备； f） 检测时机；g） 检测工艺和检测技术； h） 检测结果的评定和质量等级分类；i） 检测记录、报告和资料存档。 j） 编制（级别）、审核（级别）和批准人 ；k） 制定日期无损检测通用工艺规程的编制、审核及批准应符合相关法规或标准的规定。,中国工业检验检测网http:/,无损检测工艺卡,实施无损检测的人员应按无损检测工艺卡进行操作。无损检测工艺卡应根据无损检测通用工艺规程、产品标准、有关的技术文件
39、和本部分的要求编制，一般应包括以下内容：a） 工艺卡编号；b） 产品名称，产品编号，制造、安装或检验编号，锅炉、压力容器及压力管道的类别、规格尺寸、材料牌号、材质、热处理状态及表面状态；c） 检测设备与器材：设备种类、型号、规格尺寸、检测附件和检测材料；,中国工业检验检测网http:/,d） 检测工艺参数：检测方法、检测比例、检测部位、标准试块或标准试样（片）；e） 检测技术要求：执行标准和验收级别； f） 检测程序；g） 检测部位示意图； h） 编制（级别）和审核（级别）人 ； i） 制定日期无损检测工艺卡的编制、审核应符合相关法规或标准的规定。,中国工业检验检测网http:/,中国工业检验检测网http:/,中国工业检验检测网http:/,
