电工电子产品加速寿命试验.doc

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1、电工电子产品加速寿命试验之一1 概述寿命试验是基本的可靠性试验方法,在正常工作条件下,常常采用寿命试验方法去评估产品的各种可靠性特征。但是这种方法对寿命特别长的产品来说,不是一种合适的方法。因为它需要花费很长的试验时间,甚至来不及作完寿命试验,新的产品又设计出来,老产品就要被淘汰了。因此,在寿命试验的基础上形成的加大应力、缩短时间的加速寿命试验方法逐渐取代了常规的寿命试验方法。加速寿命试验是用加大试验应力(诸如热应力、电应力、机械应力等)的方法,激发产品在短时间内产生跟正常应力水平下相同的失效,缩短试验周期。然后运用加速寿命模型,评估产品在正常工作应力下的可靠性特征。加 速 环 境试 验 是

2、近 年 来 快 速 发 展 的 一 项 可 靠 性 试 验 技 术 。 该 技 术 突 破 了 传 统 可 靠 性 试验 的 技 术 思 路 , 将 激 发 的 试 验 机 制 引 入 到 可 靠 性 试 验 , 可 以 大 大 缩 短 试 验 时间 , 提 高 试 验 效 率 , 降 低 试 验 耗 损 。2 常见的物理模型元 器 件 的 寿 命 与 应 力 之 间 的 关 系 , 通 常 是 以 一 定 的 物 理 模 型 为 依 据 的 ,下 面 简 单 介 绍 一 下 常 用 的 几 个 物 理 模 型 。2.1 失效率模型失 效 率 模 型 是 将 失 效 率 曲 线 划 分 为 早

3、 期 失 效 、 随 机 失 效 和 磨 损 失 效 三 个阶 段 , 并 将 每 个 阶 段 的 产 品 失 效 机 理 与 其 失 效 率 相 联 系 起 来 , 形 成 浴 盆 曲 线 。该 模 型 的 主 要 应 用 表 现 为 通 过 环 境 应 力 筛 选 试 验 , 剔 除 早 期 失 效 的 产 品 , 提高 出 厂 产 品 的 可 靠 性 。2.1 失效率模型图示:O1典型的失效率曲线规定的失效率随机失效早期失效磨损失效t2.2 应力与强度模型该 模 型 研 究 实 际 环 境 应 力 与 产 品 所 能 承 受 的 强 度 的 关 系 。应 力 与 强 度 均 为 随 机

4、变 量 , 因 此 , 产 品 的 失 效 与 否 将 决 定 于 应 力 分 布 和强 度 分 布 。 随 着 时 间 的 推 移 , 产 品 的 强 度 分 布 将 逐 渐 发 生 变 化 , 如 果 应 力 分布 与 强 度 分 布 一 旦 发 生 了 干 预 , 产 品 就 会 出 现 失 效 。 因 此 , 研 究 应 力 与 强 度模 型 对 了 解 产 品 的 环 境 适 应 能 力 是 很 重 要 的 。2.3 最弱链条模型最 弱 链 条 模 型 是 基 于 元 器 件 的 失 效 是 发 生 在 构 成 元 器 件 的 诸 因 素 中 最 薄弱 的 部 位 这 一 事 实 而

5、 提 出 来 的 。该 模 型 对 于 研 究 电 子 产 品 在 高 温 下 发 生 的 失 效 最 为 有 效 , 因 为 这 类 失 效正 是 由 于 元 器 件 内 部 潜 在 的 微 观 缺 陷 和 污 染 , 在 经 过 制 造 和 使 用 后 而 逐 渐 显露 出 来 的 。 暴 露 最 显 著 、 最 迅 速 的 地 方 , 就 是 最 薄 弱 的 地 方 , 也 是 最 先 失 效的 地 方 。2.4 反应速度模型该 模 型 认 为 元 器 件 的 失 效 是 由 于 微 观 的 分 子 与 原 子 结 构 发 生 了 物 理 或 化学 的 变 化 而 引 起 的 , 从 而

6、 导 致 在 产 品 特 性 参 数 上 的 退 化 , 当 这 种 退 化 超 过 了某 一 界 限 , 就 发 生 失 效 , 主 要 模 型 有 Arrhenius 模型和 Eyring 模型等。3 加速因子的计算加 速 环 境 试 验 是 一 种 激 发 试 验 , 它 通 过 强 化 的 应 力 环 境 来 进 行 可 靠 性 试验 。 加 速 环 境 试 验 的 加 速 水 平 通 常 用 加 速 因 子 来 表 示 。 加 速 因 子 的 含 义 是 指设 备 在 正 常 工 作 应 力 下 的 寿 命 与 在 加 速 环 境 下 的 寿 命 之 比 , 通 俗 来 讲 就 是

7、指一 小 时 试 验 相 当 于 正 常 使 用 的 时 间 。 因 此 , 加 速 因 子 的 计 算 成 为 加 速 寿 命 试验 的 核 心 问 题 , 也 成 为 客 户 最 为 关 心 的 问 题 。 加 速 因 子 的 计 算 也 是 基 于 一 定的 物 理 模 型 的 , 因 此 下 面 分 别 说 明 常 用 应 力 的 加 速 因 子 的 计 算 方 法 。3.1 温度加速因子温度的加速因子由 Arrhenius 模型计算:其中,L normal为正常应力下的寿命,L stress为高温下的寿命,T normal为室温绝对温度,T stress为高温下的绝对温度,Ea 为失

8、效反应的活化能(eV),k 为Boltzmann 常数,8.6210 5 eV/K,实践表明绝大多数电子元器件的失效符合Arrhenius 模型,表 1 给出了半导体元器件常见的失效反应的活化能。表 1 半导体元器件常见失效类型的活化能设备名称 失效类型 失效机理 活化能(eV)IC 断开Au-Al 金属间产生化合物1.0IC 断开 Al 的电迁移 0.6IC(塑料) 断开 Al 腐蚀 0.56MOS IC(存贮器)短路 氧化膜破坏 0.30.35二极管 短路PN 结破坏(Au-Si 固相反应)1.5晶体管 短路 Au 的电迁移 0.6MOS 器件阈值电压漂移发光玻璃极化 1.0MOS 器件阈

9、值电压漂移Na 离子漂移至 Si 氧化膜1.21.4MOS 器件 阈值电压漂 Si-Si 氧化膜的缓慢牵 1.0移 引3.2、电压加速因子电压的加速因子由 Eyring 模型计算:其中,V stress为加速试验电压,V normal为正常工作电压, 为电压的加速率常数。3.3、湿度加速因子湿度的加速因子由 Hallberg 和 Peck 模型计算:其中,RH stress 为加速试验相对湿度,RH normal为正常工作相对湿度,n 为湿度的加速率常数,不同的失效类型对应不同的值,一般介于 23 之间。3.4、温度变化加速因子温度变化的加速因子由 CoffinMason 公式计算:其中, 为

10、加速试验下的温度变化, 为正常应力下的温度变化,n 为温度变化的加速率常数,不同的失效类型对应不同的值,一般介于 48 之间。3.5、计算实例例题:某种电子产品在室温下使用,计划在 75、85%RH 下做加速寿命测试,计算该加速试验的加速因子。解析:本试验涉及温度和湿度两种应力,因此,分别计算各应力的加速因子,然后相乘得到整个加速试验的加速因子。其中,Ea 为激活能(eV),k 为玻尔兹曼常数且 k=8.610-5eV/K,T 为绝对温度、RH 为相对湿度(单位),一般情况下 n 取为 2。根据产品的特性,取 Ea 为 0.6eV,室温取为 25、75%RH,把上述数据带入计算,求 AF37,

11、即在 75、85%RH 下做 1 小时试验相当于室温下寿命约 37小时。 还需要说明的一点是,加速因子的计算公式都是建立在特定的模型基础上的,而模型的建立往往会包含一些假设,并且会忽略或简化次要的影响因素,因此计算的结果也仅仅具有指导和参考意义,不能死板地认为只要试验足够时间就一定能确保产品的寿命。 4、加速寿命试验方法4.1、常用加速寿命试验方法目前常用的加速寿命试验方法分为以下三种:(1)恒定应力加速寿命试验:该试验方法是将试样分为几组,每组在固定的应力水平下进行寿命试验,各应力水平都高于正常工作条件下的应力水平,试验做到各组样品均有一定数量的产品发生失效为止。(2)步进应力加速寿命试验:

12、该试验方法是预先确定一组应力水平,各应力水平之间有一定的差距,从低水平开始试验,一段时间后,增加至高一级应力水平,如此逐级递增,直到试样出现一定的失效数量或者到了应力水平的极限停止试验。(3)序进应力加速寿命试验:该试验方法是将试样从低应力开始试验,应力水平水试验时间等速升高,直到一定数量的失效发生或者到了应力水平的极限为止。上述三种加速寿命试验方法,以恒定应力加速寿命试验最为成熟尽管这种试验所需时间不是最短,但比一般的寿命试验的试验时间还是缩短了不少因此它还是经常被采用的试验方法。后面两种试验方法对设备都有比较高的要求,试验成本比较高,因此目前开展的比较少。4.2、高加速寿命试验高加速寿命试

13、验(HALT)是目前比较先进成熟的寿命试验方法,属于步进应力加速寿命试验,具体含义是指在产品设计和制造工艺设计过程中,在加速测试环境下对产品施加所有可能达到的应力以期找到设计和制造工艺中的薄弱环节,并针对每一个薄弱环节提供改进设计和制造工艺的机会,从而达到缩短设计周期、提高可靠性和降低成本的目的。HALT 测试施加的应力并不是完全模拟产品使用过程中出现的应力,而是对少量样品施加较大应力在短时间内发现产品设计和制造中存在的问题,施加的应力逐步提高并超过使用环境的应力范围,解决测试中所发现的问题,直到产品强度达到技术要求。HALT 主要测试过程为:逐步施加应力直到产品失效或出现故障;采取修正措施,

14、修正产品的失效或故障;继续逐步施加应力直到产品再次失效或出现故障,并再次加以修正;重复以上应力-失效-修正的步骤;找出产品的基本操作界限和基本破坏界限。可施加的应力包括振动、高低温、温度循环、电力开关循环、电压边际及频率边际测试等。典型的 HALT 试程包括以下几个过程:1) 低温步进应力试验 ;2) 高温步进应力试验; 3) 快速热循环试验;4) 振动步进应力试验 ;5) 综合应力试验 。概括来讲,HALT 是一种发现缺陷的工序,它通过设置逐级递增的环境应力,来加速暴露试验样品的缺陷和薄弱点,然后对暴露的缺陷和故障从设计、工艺和用料等诸方面进行分析和改进,从而达到提升产品可靠性的目的,其最大

15、的特点是设置高于样品设计运行限的环境应力,从而使暴露故障的时间大大短于正常可靠性应力条件下的所需时间。 5、小结加 速 环 境 试 验 技 术 通 过 在 加 严 的 应 力 条 件 下 的 试 验 , 确 定 产 品 能 承 受 安全 应 力 的 极 限 水 平 , 获 得 有 效 的 可 靠 性 特 征 数 据 , 并 通 过 数 理 统 计 及 外 推 的方 法 预 测 工 作 在 特 定 条 件 下 的 产 品 可 靠 性 。 该 技 术 解 决 了 试 验 样 品 数 量 和 试验 时 间 之 间 的 矛 盾 , 逐 渐 成 为 考 核 产 品 的 材 料 和 工 艺 过 程 , 鉴 定 和 改 进 产 品质 量 的 有 效 手 段 , 成 为 可 靠 性 工 作 的 重 要 内 容 。

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