正畸头影测量分析.ppt

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资源描述

1、LOGOX线头影测量分析Cephalometrics Analysis Company Logo简介v 1934年 Hofrath and Broadbent 提出v 我国于 20世纪 60年代初运用于临床v 通过测量 X 线头颅定位照相所得的影像 ,对牙颌、颅面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析 ,从而了解牙颌、颅面软硬组织的结构 ,使对牙颌、颅面的检查诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中去 ,它是正畸临床诊断及治疗设计的一种重要手段 . v简言之:简言之: 通过对通过对 X片进行分析、测量,从而了解片进行分析、测量,从而了解牙颌、颅面骨骼及软组织发育状况及相互关系牙颌、颅面骨骼及软组织发

2、育状况及相互关系 。Company LogoCompany Logo一、主要应用v研究颅面生长发育v牙颌、颅面畸形的诊断分析v确定错 牙合 畸形的矫治计划v研究矫治中,矫治后的变化v外科正畸的诊断和矫治设计v下颌功能分析Company Logo1.研究颅面生长发育v不同个体同一年龄段 横向研究颅面发育v同一个体各年龄段 -纵向研究颅面发育明确了颅面生长发育机制,快速生长期的年龄、及对颅面生长发育的预测。Company Logo通过 X线对 正常牙合 人的颅面结构进行分析得出正常牙合的各项测量参考标准作为诊断分析的基础2.牙颌、颅面畸形的诊断分析Company Logo3.确定错 牙合 畸形的矫治计划对比分析出错牙合畸形的机制正常牙颌颅面关系个体牙颌颅面结构确定牙和颌位的理想位置,制定可行的矫治方案Company Logo4.研究矫治中及矫治后牙颌、颅面的变化治疗前正畸治疗治疗中 ,矫治后对比Company Logo5.外科正畸的诊断和矫治设计v通过 X线对颅面畸形患者进行分析v得出畸形的机制v确定部位、方法及需要移动或切除的部位Company Logo10二、头颅侧面定位 X片的拍照原理和方法v定位原理:1、通过定位仪上的左右耳塞与眶点指针三者构成的眼耳平面与地面平行。2、 自然头位法

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