.电子元器件来料检验规程（一）半导体晶体管部分1 内容本规程规定了本公司常用半导体二极管、三极管、达林顿晶体管、绝缘栅双极晶体管（IGBT）来料检验的抽样方式、接收标准、检验测试方法和所用测试仪器等具体要求。2 范围本规程适用于本公司常用半导体二极管、三极管、达林顿晶体管、绝缘栅双极晶体管（IGBT）来料检验和验收。3 引用标准GB2828.1-2003 计数抽样检验程序 第一部分：按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划GB2421 电工电子产品基本环境试验规程 总则GB2423.22 电工电子产品基本环境试验规程 试验Cb：恒定湿热试验方法GB2421 电工电子产品基本环境试验规程 试验N：温度变化试验方法GB4798.1 电工电子产品应用环境条件 贮存4 检验测试设备和测试方法测试设备：DW4824型晶体管特性图示仪（或QT2型晶体管特性图示仪等） 测试大功率晶体管专用转接夹具、插座或装置 数字万用表、不锈钢镊子等应手工具晶体管特性图示仪、数字
