.电子元器件入厂检验规程1 目的 为本公司电子元器件类进料检验提供科学、客观的方法和依据，进而不断提高产品质量。2 适用范围 本检验规范适用于所有电子元器件原材料的检验/验收。对某些无法用定量表明的缺陷，可用供需双方制订的检验标准和封样的办法加以解决。3 参考文件 3.1 GB/T 17215-2002 1级和2级静止式交流有功电度表。3.2 相关电子元器件技术文件和样品。4 缺陷类型4.1 A类： 严重缺陷（CRICITAL DEFECT，简写CRI），是指不良缺陷足使产品失去规定的主要或全部功能，或者特别情况下可能带来安全问题，或者为客户或市场拒绝接受的特别规定的缺点。4.2 B类： 主要缺陷（MAJOR DEFECT, 简写MAJ），不良缺陷足使产品失去部分功能，或者相对严重的结构及外观异常，从而显著降低产品的使用性能。4.3 C类： 次要缺陷（MINOR DEFECT，简写MIN），不良缺陷可以造成产品部分性能偏差或一般外观缺点，虽不影响产品性能，但会使产品价值降低的缺点。5 判定依据
