ESI—MS常见加和离子峰(共1页).doc

上传人:晟*** 文档编号:6148455 上传时间:2021-08-19 格式:DOC 页数:1 大小:13KB
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ESIMS常见加和离子峰1. ESI离子化技术是一种软电离技术,一般不出现离子碎片和碎片峰,ESI检测的样品离子与其在溶液中的状态相似。2. ESI离子化技术除了出现准分子离子峰(M+H+;,M+H-,其中M为样品分子)外,还经常出现加和离子峰(adduct ions),常见正离子加和离子有:M+Na+;M+K+;M+NH4+;常见负离子加和离子有:M+Ac-;M+Cl- ;出现何种加和离子与样品分子性质和样品溶液相关。3. 当溶液中样品浓度太大时,出现二聚体准分子离子峰(2M+H+)或者二聚体加和离子峰,如2M+Na+。4. ESI技术无法使非极性分子离子化,故非极性样品不出峰。5. 表面活性剂抑制表面活性弱的分子离子化,并污染离子源,不宜进行质谱检测。

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