TTL门电路的逻辑功能测试实验报告2页.doc

实验报告院别电子信息学院课程名称 数字电路实验班级光源与照明B实验名称TTL门电路的逻辑功能测试姓名陈鑫鸿实验时间 2017年3 月21 日学号2015010204001指导教师 报 告 内 容一、实验目的和任务1.测试TTL集成芯片中的与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。2.了解测试的方法与测试的原理。二、实验原理介绍实验中用到的基本门电路的符号为：在测试芯片逻辑功能时输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平，然后使用逻辑电平显示单元显示输出的逻辑功能。三、实验内容和数据记录1.分别列出芯片74LS08、74LS32、74LS04、74LS00、74LS02、74LS86的真值表。A B L000011101111A B L000010100111