光回损测试原理(共6页).doc

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资源描述

光通信器件 光回损测试原理引言:随着光纤通信的发展,高速光纤传输系统的广泛生产和应用(如SDH、大功率CATV等),必须具有很高的回波损耗,DFB激光器由于其线宽窄,输出特性很容易受回波损耗的影响。从而严重影响系统的性能,即使是普通的激光器,也会不同程度地受回波损耗的影响,因此,系统中各种光纤器件的回波损耗的测试变得越来越重要。关键词: 回波损耗 菲涅尔反射 瑞利散射 偏振敏感性 匹配负载1回波损耗测试基本原理当光传输在某一光器件中时,总有部分光被反射回来,光器件中回波主要由菲涅尔反射(由于折射率变化引起)、后向瑞利散射(杂质微粒引起)以及方向性等因素产生的,则该器件的回波损耗RL为:RL(dB)=10lg(反射光功率/入射光功率)(1)回波损耗的测试方法有基于OTDR和光功率计测试两种,OTDR测试方法速度快、显示直观可获得反射点的空间分布,且不需要末端匹配(短光纤仍需匹配),但成本高,重要的是某些场合不能使用(例如:光探测器的回波损耗测试等),如美国RIFOCS688及日本NTT-AT的AR-301型回波损耗测试仪

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