材料现代分析技术(共6页).doc

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资源描述

填空题(每空1分) 1.当X射线管电压超过临界电压就可以产生 连续谱X射线和 特征谱 X射线。 2. 点阵常数测定过程中需要确定峰位,确定峰位的常用方法有峰顶法 、 切线法 、半高宽法, 和抛物线拟合法 。 3. 经过厚度为H的物质后,X射线的强度为 。 4. X射线扫描仪中的常规测量中的实验参数包括狭缝宽度、扫描速度和 时间常数 。5. 磁透镜的物距L1,相距L2和焦距f三者之间的关系为 。6. 透射电镜样品制备各方法主要有复型法、和薄膜法,其中复型样品制备中塑料-碳二的复型优于碳一的复型是由于 其制备过程不损坏金相试样表面,重复性好,供观察的第二级复型一碳膜导电导热性好,在电子束照射下较为稳定 。7. 差热分析曲线总的峰高表示 试样和 参比物 之间的最大温差,即从封顶到该峰所在基线碱的垂直距离。8. 第一类应力导致X射线衍射线位移,第二类应力导致X射线衍射线线形变化,第三类应力导致X射线衍射线 强度降低 。9. 红外光谱法定量分析的具体方法主要有 标准法 、吸光度比法 和 补偿法 共同组成。

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