薄膜厚度及其折射率的测量方法综述黄丽琳 ( 楚雄师院物理与电子科学系 云南 楚雄 675000)摘要：介绍了椭圆偏振法、棱镜耦合法、干涉法、V-棱镜法和透射谱线法测量薄膜厚度和折射率的基本原理和仪器组成，并分析了它们的特点及存在问题，指出选择测量方法和仪器应注意的问题。关键词：椭圆偏振法；棱镜耦合法；干涉法；膜厚；折射率中图分类号：O48451、 引言 近年来,非线性光学聚合物薄膜及器件的研究已成为非线性光学材料领域的研究热点。非线性光学聚合物薄膜具有多种优点，如快速响应、大的电光系数、高的激光损伤阈值、小的介电常数、简单的结构、低损耗和微电子处理的兼容性等，因此正逐渐成为制造电光调解器和电光开关的重要材料【1】 。薄膜技术是当前材料科技的研究热点，特别是纳米级薄膜技术的迅速发展,精确测量薄膜厚度及其折射率等光学参数受到人们的高度重视。由于薄膜和基底材料的性质和形态不同，如何选择符合测量要求的测量方法和仪器，是一个值得认真考虑的问题。每一种测量方法和仪器都有各自的使用要求、测量范围、精确度、特点及局限性。在此主要介绍
