1、1电感耦合等离子体质谱仪1 仪器总体要求*1.1 电感耦合等离子体质谱仪要求为“三重四极杆串联质谱仪或“双重四级杆+单八级杆”的串联四级杆质谱仪，而非普通的单极四极杆质谱仪；*1.2 第一重四极杆-四级杆离子选择偏转器，可以实现将所需的特定质荷比的离子依次进入第二重四极杆的反应池内；1.3 第二重四极杆-通用池，通过反应气与待分析离子相同质荷比的干扰离子反应产生新的不同质荷比的离子，通过四极杆质量扫描过滤，彻底消除干扰物和反应副产物，只允许待分析的离子进入第三重四极杆；1.4 第三重四极杆-质量分析器，将待分析的单原子离子依次分开进行检测；1.5 具有彩色等离子体观测窗，无需打开仪器，可对锥、
2、炬管和负载线圈进行观测，使等离子体采样深度的优化和有机物的分析简单、方便。同时可实时监测锥孔及喷射管孔样品沉积情况，便于维护和清洗；1.6 电感耦合等离子体质谱仪具有与高效液相色谱技术联机进行元素价态、结合形态的分析能力，具有专业的形态分析软件；1.7 仪器要求能进行样品定性、半定量、定量、同位素比、同位素稀释、单颗粒分析、单细胞分析。1.8 至少能用于硫和磷同位素标记的定量研究；1.9 能够分析纳米材料的元素组成与浓度、尺寸及其尺寸分布。2 仪器工作环境2.1 工作环境温度： 15-30 。2.2 工作环境湿度： 80% （无冷凝） 。2.3 电源：单相 200-240V，50 Hz。3 技
3、术要求3.1 仪器硬件3.1.1 雾化器：高效石英或 PFA 同心雾化器；3.1.2 雾化室：小体积石英旋流雾化室；*3.1.3 全基体进样系统控制气路： 可实现样品气体稀释，稀释倍数大于 100 倍；可通入氧气，实现有机样品的直接进样分析；可通入甲烷气，实现难电离元素，如砷、硒等元素的超痕量分析；3.1.4 等离子体可视系统：可以从实际观测窗中实时监控等离子体状态；*3.1.5 接口设计：为实现对离子射束紧凑控制，接口至少采用三级锥设计，应至少包括一个采样锥、一个截取锥和一个超级锥或嵌片。锥接口设计要求具高灵敏度、高复杂基体耐受和低干扰水平2的大锥口设计。采样锥口径要求必须1.0mm，所有截
4、取锥或超级锥要求必须0.75mm ，从而保证长期分析高基体、高盐样品的稳定性，并延长了锥体的使用寿命。投标设备如在接口设计上采用简单两锥设计时，必须额外提供样品锥及截取锥各 3 套备用；*3.1.6 仪器主机 ICP 部分配置质量流量计：使用不少于 7 个高精度气体质量流量控制器，控制包含3 路离子源气（等离子体气、辅助气、雾化气） 、1 路全基体进样系统控制气和至少 3 路碰撞反应气（碰撞气，氧化反应气，还原反应气） 。提供投标型号仪器实物图标注证明；3.1.7 离子源：为保证获得更高的灵敏度，氧化物水平更低，需要采用高频率自激式全固态双路射频发生器，要求频率 27MHz 以上，频率稳定性
5、0.01%，采用变频技术快速匹配，适用乙腈等有机试剂直接进样；3.1.8 线圈：表面经过抗腐蚀处理的特种合金材质线圈，无需内部通入气体或液体冷却，保证超低射频能量损耗的同时具有超长的使用寿命。投标设备如采用需通气体或液体冷却的线圈时必须额外提供 3 套线圈备用；3.1.9 采用虚拟接地的、不额外依靠外部物理接地的消除锥口二次电弧放电技术。如投标设备采用屏蔽炬系统消除二次放电技术的，为满足仪器使用寿命期间的消耗，需至少额外提供 10 套备用屏蔽炬；3.1.10 真空系统：要求从大气压开始抽至可工作的真空度的时间小于 10 分钟。四级及以上真空；滑动阀关闭后，静态真空度维持在610 -8 mbar
6、；*3.1.11 离子提取：采用四极杆离子提取系统，可实现离子质量筛选功能。同时采用正交 90 度离子偏转设计，彻底分离中性离子和光子，避免分析腔内样品沉积，无需对提取透镜、碰撞反应池、质量分析器的清洗和维护；3.1.12 四极杆材料：陶瓷镀金材料或特殊合金四极杆，保证四极杆的热稳定性；3.1.13 离子提取系统、碰撞反应池系统和四极杆质量分析器均为完全免拆卸清洗维护，且非消耗品；3.1.14 脉冲模拟双模式同时型电子倍增器，必须可以在一次进样中，同时完成扫描和跳峰分析，同时可以自动在脉冲和模拟模式之间实现切换；3.1.15 等离子体矩位调整：由计算机控制步进电机进行三维（X、Y、Z 方向）位
7、置控制，参数存储于计算机软件中；*3.1.16 质谱范围：1-280amu，质量采集速度不低于 100,000 数据点/秒；3.1.17 具有高分辨和标准分辨率模式，可以对不同元素进行不同分辨率的设定，要求在一次样品测试中，可以在线连续调节 8 种以上不同分辨率，调节范围 0.2-2.0amu。低分辨可以设置到2.0amu,可以在一次方法分析过程中使用，以便通过变化分辨率扩大样品分析应用范围。 （投标人需提供生产厂家盖章的8 个不同分辨率的实时软件截屏谱图并作为验收指标） ；3.1.18 无需屏蔽圈等耗材即可实现 500W 冷焰模式，测试样品中易电离的 K、Na 等元素。要求在一次样品分析中能
8、自动切换冷焰模式和标准模式，保证样品中所有分析元素（在二种不同模式3中）一次进样完成分析；*3.1.19 碰撞反应池：池体内部及池体前端应各有一套可实现质量筛选功能的四极杆结构设计，从而实现强反应性气体下反应副产物的去除。碰撞反应池条件和标准条件的切换为全自动化。要求在同一个试验方法中可以同时使用多种气体，包括碰撞模式（He 气或氢气） 、氧化反应模式（O2 气） 、还原反应模式（纯氨气或纯甲烷） ；*3.1.20 池技术必须同时具有 KED 动能歧视模式、反应模式以及全质量数筛选过滤功能,具有至少以下四种工作模式（标准模式、碰撞模式、氧化反应模式、还原反应模式） ，不同模式切换时间小于 10
9、 秒。一个测试方法里面同时具备标准模式、碰撞模式、反应模式，仪器自动切换（投标人需提供生产厂家盖章的软件截屏） ；*3.1.21 碰撞反应池应配置至少三个质量流量计控制三路反应气。 （需要提供仪器碰撞和反应至少三路气体接口的实物图作为证据） ；3.1.22 反应池能用纯氧气,消除 ArCl+对 As 元素干扰。As 的检出限优于 1ppt(作为验收指标) ；3.1.23 反应池能用纯甲烷气体, 消除 40Ar+40Ar+对 80Se+的干扰，80Se+的检出限优于 1ppt。(提供生产厂家盖章的文献证明和承诺作为验收指标) ；3.1.24 能将 P 和 S 转化为 PO、SO 离子进行检测的能
10、力以消除 NO、O 2 离子对 P、S 的干扰，分析样品线性优于 0.9990（以浓度为,1,2,4,8ppb 做标线,提供生产厂家盖章的文献证明） ；3.1.25 反应池能通入氨气，消除 ArO/CaO 对铁的干扰,Fe 的检出限0.7ppt （作为验收指标） ；3.1.26 反应池通入氨气，消除 40Ar+对 40Ca+的干扰，40Ca+的检出限优于 1.0 ppt；3.1.27 具有无需化学分离直接分析 87Rb/87Sr 比值的能力，分析结果的误差小于 1%。3.2 软件3.2.1 操作系统： Microsoft Windows 7 多任务（配置不低于：1T 硬盘，内存 4G，1G 独
11、显，16DVD 刻录可擦写光驱，23 寸显示屏，安装正版 win7 操作系统，且保证操作系统要与所要求应用软件兼容） ，多用户系统软件；3.2.2 全自动分析功能（启动关闭仪器，炬位调整，等离子体参数，离子透镜，标准等离子体条件与冷等离子体条件切换，标准模式与碰撞反应池模式切换等） ；3.2.3 实时数据显示和实时报告显示；*3.2.4 ICP-MS 操作软件可以安装于个人计算机上，至少能安装在 5 个使用者的个人计算机上。样品分析数据可以使用此软件进行离线数据处理，并生成报告。4 仪器性能指标4.1 灵敏度：4.1.1 低质量数（Co）：100M cps/ppm ；4.1.2 中质量数(Y
12、或 In): 220 M cps/ppm；4.1.3 高质量数(Tl 或 U): 300 M cps/ppm。4.2 随机背景：0.5cps（4.5 或 220）44.3 氧化物离子（CeO+/Ce+ ） 2.5%，双电荷粒子（Ba+/Ba+）3%4.4 仪器检出限：4.4.1 轻质量元素: Be 或 Co0.3 ppt；4.4.2 中质量数元素：In 或 Y0.05 ppt；4.4.3 高质量数元素：U 或 Tl0.08 ppt；4.4.4 难测代表元素检出限 V0.1 ppt；Se0.5 ppt ；S200 ppt。4.5 稳定性4.5.1 短期稳定性（RSD）： 2% （1 小时，1 p
13、pb 混合溶液、无内标） ；4.5.2 长期稳定性（RSD）： 3% （4 小时，1 ppb 混合溶液、无内标） 。4.6 质谱校正稳定性： 0.025 amu/24h4.7 同位素精度：Ag107/Ag108 0.08%（须有生产厂家盖章的文献证明，并作为验收指标）4.8 四极杆最短驻留时间（dwell time）10 s4.9 在一次样品测试中，可以设置 8 种不同分辨率，调节范围 0.2-2.0 amu4.10 浓度动态范围：至少能同时分析 ppt 到%的元素含量，数据偏离线性不超过 55 仪器配置要求（必须满足）*5.1 串联四极杆电感耦合等离子体质谱主机 1 套；5.2 全基质进样系
14、统气体质量流量计控制系统 1 套，可实现氩气气体稀释，氧气有机加氧和甲烷气体增敏功能；5.3 具有至少三路气体质量流量计的碰撞反应池 1 个；5.4 工作站软件 1 个，至少 5 个使用安装控制账号；5.5 调试溶液 1 瓶；5.6 消耗品备品备件：采样锥 1 个、截取锥 1 个、超级锥 1 个、石英矩管 1 支、石英中心管 1 支、采样锥垫片 5 个、进样泵管 36 支、废液管 36 支、进样毛细管 2 套、 、多元素混合标准溶液 1瓶、超长效机械泵油 1 瓶、冷却液 10L 等；5.7 对于采用需通气体或液体冷却线圈的仪器，必须额外提供射频线圈 3 套；5.8 对于采用屏蔽炬的仪器，必须额
15、外提供屏蔽距 10 套；5.9 对于采用两锥设计的仪器，必须额外提供样品锥和截取锥各 3 套；5.6 循环冷却水系统（5-35 控温）1 台；5.7 配置主流商务台式电脑 1 台（主流配置：4 核 CPU、4G 内存、500G 硬盘、DVD 光驱、22 英寸液晶显示器、Win7 -64 位正版中文操作系统） ；5.8 A4 幅面黑白激光打印机 1 台；5.9 高纯氩气(40L、含钢瓶及减压阀)1 套；5.10 高纯氦气、氧气、氨气（8L、含钢瓶及减压阀）各 1 套；5.11 山特 UPS 稳压电源一台 (10kVA)，包括稳压电源主机和电池箱。56 售后服务与培训6.1 供应商应在合同规定时间
16、内完成仪器的安装调试，并达到标书和技术文件（仪器说明书等）要求的性能，如果现场安装测试指标未通过，购买方有权要求退货并要求赔偿损失；6.2 供应商免费提供用户现场安装、调试及培训。安装工程师在用户现场安装调试完毕后，进行现场讲解培训，人员不限。免费提供仪器使用手册、培训教材、应用文章等。保证用户掌握基本操作，可以正确操作使用仪器；6.3 供应商提供国内免费专业培训名额 34 名，包括仪器的基本原理、操作、日常维护及基础分析仪器理论课程，并提供上机培训；6.4 制造厂家在国内具有自己的客户体验实验室和技术中心，需提供地址和图片；在该技术中心配有同型号电感耦合等离子质谱仪等仪器，以便培训用户并协助
17、用户进行方法开发；*6.5 为保证投标设备的售后服务规范性，制造厂家国内子公司必须具备 ISO9001/ISO14001 质量体系认证，认证范围必须包含“安装维修服务” ； 6.6 在中国国内具有完善维修服务体系，提供备品备件供应，并在国内有保税库；6.7 提供终身的技术支持。制造商在河南有不少于 3 名专业售后维修工程师。另有专门的应用工程师对客户提供专业的应用技术支持。在客户遇到困难，可及时提供方法开发和应用支持的指导；6.8 确保 4 小时内对维修信息作出反应，13 个工作日到场实施维修；6.9 提供一次免费移机服务。7 目的地 河南新乡，用户实验室X-射线衍射仪招标技术参数一、工作条件
18、：1 环境温度：15C-25 C；2 相对湿度：20%-80% ；3 工作电压：210V-230V，50 Hz。二、技术参数1 X 射线光源与光管1.1 X 射线发生器：1.1.1 最大输出功率：3 kW；1.1.2 最大电压：大于等于 50 kV；1.1.3 最大电流 60mA；61.1.4 安全防护：1 Sv/h ；1.1.5 电流电压数字显示；1.1.6 超高频电压发生器,电流电压稳定度：优于0.005% （外电压波动 10%） 。1.2 X 射线光管*1.2.1 材料：全金属陶瓷，更换 X 射线光管后无需重新校准；1.2.2 靶材及功率：Cu 靶 2.2 KW；1.2.3 最大电压：6
19、0 KV；1.2.4 最大电流：55 mA；1.2.5 保证寿命：两年或 4000 小时（以先到为准） ；1.2.6 快门方式：气动或电动。2 测角仪2.1 测角仪具有光学定位系统；*2.2 转动方式：Theta / Theta 测角仪，立式或水平测角仪；2.3 角度重现性：0.0001；2.4 驱动方式：步进马达加光学编码器驱动。3 探测器*3.1 能量色散矩阵探测器：相对与常规点探测器强度提高 450 倍，比一维探测器提高三倍，灵敏度提高一个数量级，提供盖章彩页；*3.2 子探测器个数：2880 个，保证每个子通道完好，随机带保证书，支持固定模式扫描以及原位分析；3.3 最大计数：110
20、8 cps；3.4 像素大小：75 m；3.5 背景：0.1 cps；*3.6 探测器本身能量分辨率：4.75% （380eV/8000ev）完全能够分辨 Ka, K射线，并去铜靶测试铁钴镍样品产生的荧光，而无需任何单色器，提供原版盖章彩页；3.7 提供的半导体阵列探测必须适合小角和广角测试，最低 0.3 度起测；3.8 探测器多模式切换，测薄膜由聚焦光路到平行光路不需要切换探测器，软件控制实现 0 维模式，并且保证重现性。可采用零维模式（点探测器） ，一维模式（阵列探测器） ；3.9 验收精度：国际标准样品 NIST 1976 刚玉标样现场检测，全谱范围内所有峰的角度偏差不超过0.01 度。
21、4 样品台4.1 标准粉末水平样品台，多种类型及规格样品台或样品架。5 光路部分*5.1 所有光学附件均采用预校准模块化设计，安装、拆卸方便快捷，更换不同的应用光学附件不7需要重新校准；5.2 所有光学附件智能芯片识别、自动精确定位；*5.3 用于薄膜测试平行光与用于粉末测试的聚焦光采用软件控制自动切换，无需人工干预，重现性保证，聚焦光 theta=0.001 度，平行光 theta=0.0025 度，提供原版盖章彩页。三、仪器控制和数据采集系统1 计算机控制系统 : 操作电脑（配置不低于：1T 硬盘，内存 4G，1G 独显，16DVD 刻录可擦写光驱，23 寸显示屏，安装正版 win7 操作
22、系统，且保证操作系统要与所要求应用软件兼容） ；2 仪器控制和数据采集软件：2.1 软件为 Windows7 操作平台，可进行设备控制，数据采集，可授权安装在 3 台计算机上，能够分析和处理所有相关数据，支持多数据自动背景处理；2.2 免费提供仪器控制和数据采集软件：物相检索软件（含原始数据直接检索功能） ，数据处理软件（含物相定量分析，可编程定量分析） ，结构解析以及无标定量分析，结构精修软件，新结构数据库且可以免费更新；2.3 其它提高仪器设备性能的必备附件。四、配置及相关配件1 X-射线衍射仪一台；2 辅助冷却循环水系统，稳定性能好；3 山特 UPS 稳压电源一台 (10kVA)，包括稳
23、压电源主机和电池箱；4 黑白激光打印机 1 台；5 样品池套装一套（至少 10 个） ，玻璃样品池 10 个，微量样品池 2 个，块状样品池 2 个。五、国际安全标准和国内维修体系要求*1 提供国家环保部门所颁发的辐射安全销售许可证；2 制造厂家必须提供 ISO9001 和 ISO14001 认证；3 在中国国内具有完善维修服务体系，提供备品备件供应，并在国内有保税库；4 投标产品应具有在中国国内成熟的用户群，提供用户清单。六、技术服务1 专业工程师免费安装、调试、培训。安装前免费国内技术培训，免费提供操作手册及有关的技术文件。由厂家提供壹年保修服务（含服务费和工本费） 。保修期自验收合格，双
24、方签字之日起计算。保修期满 1 个月前由供方对用户的仪器进行一次免费的、全面的检查。如发现问题或潜在的问题，应在保修期内将问题解决。保修期内因质量问题而导致仪器停用的时间应从保修期中扣除；2 供应商在中国境内设有专业的培训中心，除在用户所在地对用户进行 2 人、为期 1-3 个工作日的培训外，还需为用户提供免费培训 2 人次（北京或上海培训中心） 。供应商可以协助用户开发分析方法，并提供现场高阶应用培训；83 维修响应时间：供方应在 24 小时内对用户的报修申请做出响应。一般性问题应在 48 小时内解决；对于在 48 小时内无法解决的其它较大的问题，应在 3 天内给以解决；对于在 3 天内不能解决的问题，应提出明确的解决方案，得到用户的认可后，在预定的期限内解决问题。否则，供方应赔偿由此而造成的损失。4 提供一次免费移机服务；5 在河南省有常驻的售后服务工程师，工程师须有制造商授权证书；6 免费提供仪器最新信息和资料及升级分析功能等随机软件，保证所有分析软件可终身免费升级；7 定期举行技术培训班，满足客户的技术服务需求。七、目的地 河南新乡，用户实验室
