半导体器件物理II必背公式-考点摘要(共18页).doc

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实用标准文案半二复习笔记1.1 MOS结构1. 费米势:禁带中心能级(EFi)与费米能级(EF)之差的电势表示2. 表面势:半导体表面电势与体内电势之差,体内EFi和表面EFi之差的电势表示3. 金半功函数差4. P沟道阈值电压注意faifn是个负值1.3 MOS原理1. MOSFET非饱和区IV公式2. 跨导定义:VDS一定时,漏电流ID随VGS变化率,反映了VGS 对ID 的控制能力3. 提高饱和区跨导途径4.衬底偏置电压VSB0,其影响5. 背栅定义:衬底能起到栅极的作用。VSB变化,使耗尽层宽度变化,耗尽层电荷变化;若VGS不变,则反型沟道电荷变化,漏电流变化1.4 频率特性1. MOSFET频率限制因素:沟道载流子的沟道运输时间(通常不是主要的限制因素) 栅电容充放电需要时间2. 截止频率:器件电流增益为1时的频率 高频等效模型如下: 栅极总电容CG看题目所给条件。若为理想,CgdT为0,CgsT约等于Cox,即CG=Cox;非理

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