智能仪器可测试性设计 电子科学与工程学院 2004年 6月 主要内容 可测试性概述 固有测试性设计 机内自测试技术 -BIT 设计实例 随着计算机技术的飞速发展和大规模集 成电路的广泛应用，智能仪器在改善和 提高自身性能的同时，也大大增加了系 统的 复杂性 。这就给智能仪器的 测试 带 来诸多问题，如测试时间长、故障诊断 困难、使用维护费用高等，从而引起了 人们的高度重视。自 20世纪 80年代以来 ，测试性和诊断技术在国外得到了迅速 发展，研究人员开展了大量的系统测试 和诊断问题的研究，测试性逐步形成了 一门与可靠性、维修性并行发展的学科 分支。 可测试性 是系统和设备的一种便于测试 和诊断的重要设计特性，对各种复杂系 统尤其是对电子系统和设备的维修性、 可靠性和可用性有很大影响。可测试性 设计要求在设计研制过程中使系统具有 自检测和为诊断提供方便的设计特性。 具有良好测试性的系统和设备，可以及 时、快速地检测与隔离故障，提高执行 任务的可靠性与安全性，缩短故障检测 与隔离时间，进而减少维修时间，提高 系统可用性，降低系统的使用维护费用 。 可测试性概述 可测试性与可测试性设计 测试
