用X射线法进行成分分析和物相分析，其原理有何差异？ X射线衍射，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射，主要有连续X射线和特征X射线两种。晶体可被用作X光的光栅，这些很大数目的原子或离子/分子所产生的相干散射将会发生光的干涉作用，从而影响散射的X射线的强度增强或减弱。由于大量原子散射波的叠加，互相干涉而产生最大强度的光束称为X射线的衍射线。满足衍射条件，可应用布拉格公式：2dsin=n; 应用已知波长的X射线来测量角，从而计算出晶面间距d，这是用于X射线结构分析；另一个是应用已知d的晶体来测量角，从而计算出特征X射线的波长，进而可在已有资料查出试样中所含的元素，可用于材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。用X射线法进行成分分析和物相分析，原理的差异： 用X射线法进行成分分析的原理是采用特征波长展谱，通过已知晶格间距的晶体对样品发出的特征波长X射线进行衍射，从而测量特征波长，对样品元素成分进行定性。用X射线法进行物相分析的原理则相
