《材料分析测试技术》课程试卷答案(总8页).doc

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资源描述

一、 选择题:(8分/每题1分)1. .当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生(D)。A. 光电子;B. 二次荧光;C. 俄歇电子;D. (A+C)2. 有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm,用铁靶K(K=0.194nm)照射该晶体能产生( B )衍射线。A. 三条; B .四条; C. 五条;D. 六条。3. .最常用的X射线衍射方法是( B )。A. 劳厄法;B. 粉末多晶法;C. 周转晶体法;D. 德拜法。4. .测定钢中的奥氏体含量,若采用定量X射线物相分析,常用方法是(C )。A. 外标法;B. 内标法;C. 直接比较法;D. K值法。5. 可以提高TEM的衬度的光栏是( B )。A. 第二聚光镜光栏;B. 物镜光栏;C. 选区光栏;D. 其它光栏。6. 如果单晶体衍射花样是正六边形,那么晶体结构是( D )。A. 六方结构;B. 立方结构;C. 四方结构;D. A或B。7. .将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像,这是

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