精选优质文档-倾情为你奉上数字系统测试与可测性设计 实验指导书（二）实验教师：2012年4月9日I 实验名称和目的实验名称：ATPG应用实验目的：了解Mentor公司的FastScan-(ATPG生成工具)业界最杰出的测试向量自动生成工具。了解测试各种基准电路的标准输入格式，运用FastScan工具生成测试向量。深入理解单固定故障模型相关概念。II实验前的预习及准备工作：1、 充分理解课堂上学习的故障模型相关概念。2、 Mentor公司的测试相关工具的介绍缩略语清单：ATPG：Automatic Test Pattern GenerationATE：Automated Test EquipmentBIST：Built In Self TestCUT：Chip/Circuit Under TestDFT：Design For TestabilityDRC：Design Rule CheckingPI：Primary InputPO：Primary Output组合
