精选优质文档-倾情为你奉上半导体材料吸收光谱测试分析一、实验目的1.掌握半导体材料的能带结构与特点、半导体材料禁带宽度的测量原理与方法。2.掌握紫外可见分光光度计的构造、使用方法和光吸收定律。二、实验仪器及材料紫外可见分光光度计及其消耗品如氘灯、钨灯、绘图打印机，玻璃基ZnO薄膜。三、实验原理1.紫外可见分光光度计的构造、光吸收定律UV762双光束紫外可见分光光度计外观图：(1)仪器构造：光源、单色器、吸收池、检测器、显示记录系统。a光源：钨灯或卤钨灯可见光源，3501000nm；氢灯或氘灯紫外光源，200360nm。b单色器：包括狭缝、准直镜、色散元件色散元件：棱镜对不同波长的光折射率不同分出光波长不等距； 光栅衍射和干涉分出光波长等距。c吸收池：玻璃能吸收UV光，仅适用于可见光区；石英不能吸收紫外光，适用于紫外和可见光区。 要求：匹配性（对光的吸收和反射应一致）d检测器：将光信号转变为电信号的装置。如：光电池、光电管（红敏和蓝敏）、光电
