考试命名名称：材料分析测试技术 一、 考试的总体要求要求学生掌握材料科学的结构表征中的基本原理、结构测量手段及分析方法。应用其分析材料中的相结构和晶体结构、并能够测定立方结构的点阵常数。二、 考试的内容1基本概念：晶体结构基础晶系、晶帯、晶向、晶簇、晶面、倒空间、爱瓦德球、FCC 和BCC 结构在正、倒空间中的关系。X 射线基础X 射线特征谱、Bragg 方程、原子散射因子、结构因子、X 射线强度、超点阵、晶面指标化。电子显微镜的基本原理和方法。SEM， TEM，AFM，STM， EDS，WDS 等的工作原理；分辨率、焦长、景深、复型技术、放大倍数；XRD 与电子衍射区别、SEM 与 TEM 的区别。2基本原理及其推导:非弹性散射；正、倒空间中的 Bragg 方程；正、倒空间中的边角关系；晶面间距公式；立方和六方晶系的消光规律；电子衍射原理及 R 方程；点阵常数的精确测定。3. 空间图形：立方晶体中的晶面和晶向；标准立方结构投影图（晶面、晶向、晶帯）及转动 45 度、 90 度的投影图；电子衍射花样的指标化4计算要求：Bragg 方程、晶帯定律、消光规律、晶面间距、最小二乘法计算点阵常数。三、 考试的题型基本概念（选择填空、判断对错、名词解释、英文缩写意义） ；作图题、证明题及计算题。
