1、第六章 智能仪器可靠性与抗干扰技术 第一节 可靠性概述 第二节 可靠性设计 第三节 智能仪器干扰源分析 第四节 抑制电磁干扰的主要技术及应用 第一节 可靠性概述可靠率 是指在规定条件下和规定时间内智能仪器完成所规定任务的成功率。 R(t)= S(t)/N 失效率 也称瞬时失效率或称故障率，是指智能仪器运行到 t时刻后单位时间内发生故障的智能仪器台数与 t时刻完好智能仪器台数之比。 (t)= NR(t)-R(t+t)/ NR(t) t 或 =/T 一、可靠性的基本概念 早期故障期 耗损故障期偶然故障期(t)(失效率)使用寿命规定的失效率a bt(时间 )(a) 经典浴盆曲线 0(t)(失效率 )
2、使用寿命期0 t(时间 )(b) 新浴盆曲线 初始期 衰老期平均故障间隔时间 MTBF或称为平均无故障时间 (亦称故障前平均时间 )MTTF。 前者用来描述可修复的仪器；后者用于描述不可修复的仪器。一般情况下，都用 MTBF来表示，它与可靠率 R(t)之间的关系为 平均修复时间和可用性 可靠性与经济性 维修费用可靠率费用总费用使用费用可靠率与经济性的关系 二、可靠性的总体考虑 （一）设计过程 1系统设计的进程 分析设计任务 分析提出可靠性方案比较、确定软件设计 硬件设计测试、考验试运行设想措施可靠性分析软件措施硬件措施故障评估分析改进措施系统设计进程 可靠性考虑方案设想2生产及使用过程 （二）
3、、可靠性的分配方法 均等分配法 航空无线电公司分配法 达到的目标是满足下式： 根据先验知识预计每个分系统的失效率 i 计算加权因子 Wr。 加权因子由下式计算： 对每一个分系统分配失效率 第二节 可靠性设计 一、硬件可靠性设计 （一）影响仪器可靠性的因素 元器件的可靠性 工艺 电路结构 环境因素 人为因素 使用值额定值(t)1 2（二）提高仪器可靠性的措施 元器件的选择 （ 电阻器 、 电容器 、 集成电路芯片 ） 筛选 降额使用 可靠的电路设计 冗余设计包括并联系统和串联系统两种形式 并联、串联系统 并联系统的可靠度 Rp为 串联系统的可靠度 RS为 11 12 1n21 22 2nm1 m2 mn 串并联系统 串并联系统的可靠度为
