实验十四--TTL、CMOS门电路参数及逻辑特性的测试(共7页).doc

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精选优质文档-倾情为你奉上实验十四 TTL、CMOS门电路参数及逻辑特性的测试厦门大学 通信工程系 林XX一.实验目的:1、掌握TTL、CMOS与非门参数的测量方法;2、掌握TTL、CMOS与非门逻辑特性的测量方法;3、掌握TTL与CMOS门电路接口设计方法。二.实验原理:(一)TTL门电路:TTL门电路是标准的集成数字电路,其输入、输出端均采用双极型三极管结构:凡是TTL器件特性均与TTL门电路具有相同特性,故需了解TTL门电路的主要参数。7400是TTL型中速二输入端四与非门。图1是它的内部电路原理图和管脚排列图。1、TTL与非门的主要参数:(1)输入短路电流:IIS: 与非门某输入端接地时,该输入端接入地的电流。(2)输入高电平电流 IIH: 与非门某输入端接VCC(5V),其他输入端悬空或接VCC时,流入该输入端的电流。 TTL与非门特性如图2所示:(3)开门电平VON: 使输出端维持低电平VOL所需的最小输入高电平,通常以VO=0.4V时的Vi定义。(

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