数字电路测试生成算法综述(共6页).doc

上传人:晟*** 文档编号:8206108 上传时间:2021-11-18 格式:DOC 页数:6 大小:95KB
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精选优质文档-倾情为你奉上数字电路测试生成算法综述于功敬,魏蛟龙(北京航天测控技术公司,北京 )摘要:随着数字电路的规模和复杂性不断增加,自动矢量生成技术己日益成为数字电路测试与诊断的瓶颈环节。本文主要讨论了电路的测试及故障检测的一些基本问题,并对数字电路测试生成的主要算法进行了分析和比较。最后预测了测试矢量自动生成技术的发展趋势。关键词:故障检测;测试矢量;数字电路;测试生成算法1 引言数字电路测试与故障诊断包括四个步骤:建立故障字典、加载激励、回收响应和分离故障,即选择激励通道和响应通道并建立激励矢量和故障模式之间的映射关系,然后向被测对象施加激励矢量,并采集其响应矢量,最后通过故障字典来分离故障。故障字典先于实际测试而建立,并直接用于测试结束后的故障分析,包含了被测对象故障征兆的全部信息,是贯穿四个测试诊断步骤的关键数据。而故障字典对于故障图样分辨能力和覆盖程度的优劣,完全取决于测试激励矢量的生成质量,这就是数字电路测试矢量自动生成技术所要研究的中心问题。自从1966年Armstrong提出一维通路敏化法以来,

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