基于单片机的通用测控系统的设计(共21页).doc

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精选优质文档-倾情为你奉上摘要: 目前,随着芯片技术及单片机功能的不断发展和成熟,单片机技术已经在工业测控系统中得到了广泛的应用。市场上出现了很多型号的单片机和相应的外围模块化产品,尤以8051系列。功能强大的各种单片机的确减轻了控制系统设计人员的工作量,但它存在两个问题:其一,在选定单片机过程中没有考虑软硬件的综合设计,即只考虑了硬件的方便性,没有考虑与之相应的软件,所以在系统设计周期中,硬件与软件的设计过程分离且相互独立,在系统集成前没有交互作用;其二,在硬件选择过程中,没有考虑系统开发周期及成本,往往需要购买专用的开发系统及编程器,开发人员还要花费一定的时间熟悉指令和仿真器,延长开发周期。显然,这种依据项目功能选择单片机的设计方法限制了平衡软硬件的能力,不能充分发挥软硬件各自的潜力。当最后软件与硬件组合到一起时,很可能要对硬件或软件进行修改,有时甚至要增加部分特制的硬件,从而导致开发周期延长、系统综合性能下降及潜在开发费用的增加。为此,要在开发周期和费用的限制下设计完整的控制系统,需要主要是硬件综合设计的方法。正是在软硬件综合设计思想的基础上,考虑到单片机测控系统的独

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