CCD在尺寸测量方面的应用(共10页).doc

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精选优质文档-倾情为你奉上线阵CCD在尺寸测量方面的应用 一、引言电荷耦合器件(CCD)是以电荷为信号载体的传感器,属于集成光电传感器,主要应用于光电图像的传感。自从CCD于1970年首先在美国研制成功,它就一系列与众不同、无可比拟的优势就显示出来:灵敏度高、几何尺寸精确、光谱响应宽、动态范围大、操作容易、维护方便等。一般说来,CCD输出信号有以下几个特点:(1)能够输出与光像位置相对应的时序信号。(2)能够输出各个脉冲彼此独立相间的模拟信号。(3)能够输出反映焦点面信息的信号。我们将光源、光学系统与这三个特点相结合,可以实现尺寸的测量。而尺寸的测量在一些场合时非常有必要的,特别是高精度尺寸测量。在工业生产和科学实验中,经常碰到微小尺寸的检测问题,如细丝、薄板、狭缝等,不仅费时费力,而且精度较低,不便于实时检测、显示和控制,其应用范围也受到一定的限制。近年来,利用线阵CCD进行无接触一维测量已经得到广泛应用。线阵CCD器件具有许多优点:(1)非接触式,避免对所测器件的损伤。(2

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