结构光方法测量过程主要包括两个步骤(共4页).doc

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精选优质文档-倾情为你奉上 结构光方法测量过程主要包括两个步骤: 第一步:由激光投射器根据测量需要投射可控制的光点、光条或光面结构光到物体表面形成特征点,并调节 CCD 摄像机与视频采集软件,拍摄关于特征点的图像。 第二步: 建立合理的坐标系。然后由物体表面投射光图案的几何形态特征,通过滤噪,图像处理等步骤,提取得到特征点形成的像素坐标。再通过模式识别判断物体表面形状,利用激光器和 CCD 摄像机在空间中的位置等参数,利用三角法测量原理反求得原特征点的坐标。 在实际应用中,线结构光测量系统由于其快速、精确、稳定性好,而且结构简单,易于实现,相比点结构光提高了效率,又避免了面结构光方法的复杂性,因此在各个应用领域,如制造业、军事、医学上获得了更广泛的应用。本项目中采用的也是线结构光系统,因此本论文的内容都围绕线结构光测量系统展开。 线结构光法比起点结构光法,测量得到的信息量大大增加,而其实现的系统复杂性并没有增加,因而得到了广泛应用。该方法也是基于三角测量原理,所不同的是采用线光源代替点光源。

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