数电寄存器功能测试及应用实验报告(共3页).doc

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精选优质文档-倾情为你奉上 实验八 寄存器功能测试及应用 一、实验目的1、熟悉寄存器的电路结构和工作原理。2、掌握集成移位寄存器74HC194的逻辑功能和使用方法。二、实验设备及器件1、数字逻辑电路实验板2、74HC194四位双向通用移位寄存器1片。3、电源插座1个,导线若干。三、实验原理移位寄存器是一个具有移位功能的寄存器,是指寄存器中所存的代码能够在移位脉冲的作用下依次左移或右移。既能左移又能右移的称为双向移位寄存器,只需要改变左、右移的控制信号便可实现双向移位要求。根据移位寄存器存取信息的方式不同分为:串入串出、串入并出、并入串出、并入并出四种形式。本实验选用的4位双向通用移位寄存器,型号为CC40194或74HC194,两者功能相同,可互换使用,其逻辑符号及引脚排列如图81所示。功能表如表8-1所示。74HC194图81 74HC194引脚排列 其中 D0、D1 、D2 、D3为并行输入端;Q0、Q1、Q2、Q3为并行输出

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