IC测试基本原理与ATE测试向量生成(共8页).doc

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精选优质文档-倾情为你奉上IC测试基本原理与ATE测试向量生成来源:互联网测试()主要的目的是将合格的芯片与不合格的芯片区分开,保证产品的质量与可靠性。随着集成电路的飞速发展,其规模越来越大,对电路的质量与可靠性要求进一步提高,集成电路的测试方法也变得越来越困难。因此,研究和发展IC测试,有着重要的意义。而测试向量作为IC测试中的重要部分,研究其生成方法也日渐重要。1 IC测试1.1 IC测试原理IC测试是指依据被测器件(DUT)特点和功能,给DUT提供测试激励(X),通过测量DUT输出响应(Y)与期望输出做比较,从而判断DUT是否符合格。图1所示为IC测试的基本原理模型。根据器件类型,IC测试可以分为数字电路测试、模拟电路测试和混合电路测试。数字电路测试是IC测试的基础,除少数纯模拟IC如运算放大器、电压比较器、模拟开关等之外,现代电子系统中使用的大部分IC都包含有数字信号。图1 IC测试基本原理模型数字IC测试一般有直流测试、交流测试和功能测试。1.2功能测试功能测试用于验证IC是否能完成设计所预期的工作或功能。功能测试是数字

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