材料微观分析复习资料(共5页).docx

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资源描述

精选优质文档-倾情为你奉上多晶体(粉晶)X射线衍射分析的基本方法为照相法和衍射仪法。透射电镜的样品可分为直接样品和间接样品。X射线衍射、透射电子显微镜、扫描电子显微镜、扫描投射电子显微镜的英文字母缩写分别是XRD、TEM、SEM、STEM。电子束与固体物质(样品)相互作用可能产生的信号主要有背散射电子、二次电子、吸收电子、透射电子、特征X射线和俄歇电子等。电子透镜有静电透镜和电磁透镜两种类型。透射电镜的两种基本操作是成像操作和衍射操作。电子衍射产生的复杂衍射花样是高阶劳埃斑点、超点阵斑点、二次衍射斑点、孪晶斑点和菊池衍射花样。当X射线管电压超过临界电压就可以产生连续X射线谱和特征X射线谱。产生衍射的必要条件是满足布拉格方程,充分条件是衍射强度不等于0。电磁透镜的像差包括球差、像散和色差。X射线管主要由阳极、阴极和窗口构成。透射电子显微镜的分辨率主要受衍射效应和像差两因素影响。所谓复型,就是样品表面形貌的复制,主要采用的复型方法有一级复型法、二级复型法和萃取复型法三种。光学显微镜的分辨本领取决于照明光源的波长。在可见

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