CPK-培训教材详细讲解(共12页).doc

精选优质文档-倾情为你奉上 CPK 培訓教材一.Cpk的定義 某一制程在一定因素與正常管制狀態下的品質作業能力.二.Cpk的影響因素 製程要因-原料,机器設備,人員能力,測量儀器. 製程條件-常態分配,統計管制狀態.三.Cpk的計算 USL:上限尺寸 LSL:下限尺寸 Average:測量數据的平均值 :標準差,其公式為: = Cpu=(USL-Average)/3 Cpl=(Average-LSL)/3 Cpk=Min(Cpu,Cpl) :其大小表示測量數据的離散程度, 越小表示數据的離散程度越小,反之則數据的離散程度越大. Cpu:其值表示測量數据偏離上限的程度, Cpu越大表示測量數据偏離上限較遠; 反之則數据靠近上限. Cpl: 其值表示測量數据偏離下限的程度, Cpl越大表示測量數据偏離下限較遠; 反之則數据靠近下限.四.Cpk的等級