2013电子设计大赛报告(共20页).doc

精选优质文档-倾情为你奉上2013年全国大学生电子设计竞赛设计报告简易频率特性测试仪（E 题） 2013年9月7日摘要 该频率特性测量仪采ARM控制核心，主要由DDS、滤波器、ADC等功能模块组成。其中，数据处理包括了幅频测量以及相频测量部分。实际操作通过ARM控制来实现幅频特性和相频特性的测量，包括参数预置、点测结果的显示，以及用模拟示波器单独或同时显示幅频特性曲线和相频特性曲线。本系统采用FPGA控制的DDS芯片9854实现信号发生电路，频率值与步长均能灵活准确地预置。并用ARM控制显示。被测网络采用RLC，中心频率及带宽均达到要求。用FPGA控制DDS产生两路正交扫频信号,与被测网络经过乘法器后幅度改变,相位改变。经过低通滤波器和ADC转换器，最后又ARM处理显示。【关键词】“DDS” “ARM应用” “FPGA”