精选优质文档-倾情为你奉上晶片来料检验标准 受控状态： 内部参阅 文件编号： LTO-W-XNE-003 版 本： 试行版 页 数： 5 生效日期： 2010-6-13 发文编号： 2010- 文件版本修订章节修 订 说 明编制部门批 准审 核工 程编 制研发工程部 一、目的1.1制定LED CHIP IQC检验规范。1.2制定原物料入库正常程序，以确保我司产品品质。二、范围我司采购所有晶片。三、 内容3.1检验测试项
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