精选优质文档-倾情为你奉上Ipcq检测室硅块检测流程：硅块转入外观检验垂直度检验边宽/长度检验导电类型检验电阻率检验红外探伤检验少子寿命检验硅块判定硅块转出硅块检验操作指导步骤1. 外观检验1.1 确认所送硅块的箭头标示是否清楚，每个硅块的随工单信息填写是否完整，且与硅块表面标示信息（硅锭号与硅块号）是否一致，以及确认边角料的数量。1.2与制造部送检人员共同确定每个硅块的外观质量状况，如有崩边、崩块等外观问题，使用游标卡尺测量缺陷的长度（沿硅锭的长晶方向测量），并把这些信息准确填写在品质记录表上和对应的硅块随工单上。2. 垂直度检测2.1 抽样方法：小硅块（16块）测A1,C6,C11,A16;大硅块测A1,C7,C13,C19.A25,进行检测硅块垂直度。2.2 使用万能角度尺测量硅块四个侧面的垂直度，即相邻两侧面间的垂直度，每个抽样硅块测量任意三个角的垂直度，每个角从硅块头部到尾部至少均为测量三次，并将检测数据记录于硅块检测记录表中。2.3 将万能角度尺两臂紧贴硅块相邻两侧面，若臂于硅块表面接触存在空隙，判定硅
