数显卡尺内校管理办法(共4页).doc

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精选优质文档-倾情为你奉上数显卡尺内校管理办法1.0 目的及适用范围1.1 目的本管理办法规定了数显卡尺的技术要求、校准条件、校准项目、校准方法、校准结果的处理和校准周期。1.2 适用范围本管理办法用于新购置、使用中和修理后的数显卡尺功能的校准。 2.0 引用文件JJG30-2002通用卡尺检定规程3.0 术语和定义不需用4.0 一般要求4.1 技术要求4.1.1 外观及附件。被检卡尺的外观应完好,无影响正常工作的机械损伤,其附件和使用说明书应齐全。4.1.2 工作正常性 被检卡尺的各开关及显示功能应正常,通电后应能正常工作。4.2 校准条件4.2.1 环境条件如下:4.2.1.1 环境温度:(205);4.2.1.2 相对湿度:2075;4.2.2 校准用设备 校准所用标准设备必须经过法定计量技术机构校准合格,并在有效期内。标准设备的测量范围要涵盖被检仪器的测量范围,标准件的精准度最少小于被检卡尺的三分之一。4.2.2.1 三等量块4.2.2.2 数显千分尺

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