精选优质文档-倾情为你奉上测试基本原理和使用方法一、测试基本原理随着单片技术的发展,1978年,Leeb博士首次提出了一种全新的测硬方法,它的基本原理是具有一定质量的冲击体在一定的作用下冲击试样表面,测量冲击体距试样表面1mm处的冲击速度与回跳速度,利用电磁原理,感应与速度成正比的电压。值以冲击体回跳速度与冲击速度之比来表示。计算公式:HL=1000*(VB/VA)式中:HL值VB冲击体回跳速度VA冲击体冲击速度二、冲击装置度有D、DC、D=15、C、G、E、DL七种:D:外型尺寸:f20*70mm,重量:75g.通用型,用于大部分硬度测量。DC:外型尺寸:f20*86mm,重量:50g。冲击装置很短,主要用于非常局促的地方,例如孔或圆筒内。D+15:外型尺寸:f20*162mm,重量:80g。头部细小,用于或凹入的测量。C:外型尺寸:f20*141mm,重量:75g。最小,用于测小轻、薄部件及层。G:外型尺寸:f30*254mm,重量:250g。大,对测量表面要求低。用于大、厚重及表面较粗糙的锻。E:外型尺寸:f20*162,重量8