IC功能测试理论(共27页).doc

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精选优质文档-倾情为你奉上功能测试理论1.基础术语摘要: 本章节包含以下内容, 功能测试简介u 功能测试要求u 输入/输出信号的建立u 功能测试的一些方法u 基础术语 功能测试包含一些新的术语,这里先简单介绍一下: Output Mask 输出屏蔽,一种在功能测试期间让测试通道的输出比较功能打开或关闭的方法,可以针对单独的pin在单独的周期实施。 Output Sampling 输出采样,在功能测试中,DUT的输出信号在周期内的某个时间点被评估的过程。PE卡上的比较电路会将输出电压和预先设定的逻辑1(VOH)和逻辑0(VOL)相比较,然后测试系统做出pass或fail的判断。Output Sampling也称为“Strobing”。 Test Pattern 测试向量(国内很多资料将其译为“测试模式”),是器件一系列所设计的逻辑功能的输入输出状态的描述。输入数据由测试系统提供给DUT,输出数据则用于和DUT

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