TD-LTE基站射频测试步骤详解(共45页).doc

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精选优质文档-倾情为你奉上TD-LTE基站射频测试操作说明第一部分 TX测试一、TX测试连接图 Note: 衰减为输出功率2.5倍以上,此处选择30dB。 10MH 参考线时钟线reference接BBU针孔,10毫秒trigger接B板最右边网口。二、仪表等附件内容频谱分析仪(Agilent MXA Signal Analyzer N9020A,10Hz13.6GHz), 30dB衰减,System DC Power 7Supply (Agilent N5747A/60V/12.5A/750W),VGA信号源。LTE NEM,Secure CRT。三、NEM操作系统配置四、频谱仪选键设置Step 1. 选择LTE模式,Press Mode, LTE TDD. Step 2. 频点设置 FREQ ChannelStep 3. 频点补偿设置 Input/Output, External Gain, BTSStep 4. 下行模式设置Mode Setup, Rad

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