1、蔬菜種苗葉片之型態分析與辨識 國立台灣大學生物產業機電工程學系季育澤 林達德前 言本研究利用新發展的貝氏描述子 (Bezier Descriptor)及傳統型態學上之特徵如 長寬比、 似圓度 、 平滑度 等來描述蔬菜種苗葉片的形狀。藉由這些特徵，我們可以將種苗葉片分類並辨識葉片之種類。實 驗 設 備 與 材 料q 實驗設備 Meteor彩色的影像擷取卡。 Watec CCD 攝影機。 背光箱及攝影機架。 軟體 :Borland C+ BuilderMatrox Image Libraryq 實驗材料 甘藍 、 白菜、 萵苣、 莧菜貝氏曲線 (Bezier Curve)qBezier Curve
2、乃由四點 (兩端點 , 兩控制點 )所構成的三次曲線。B(t) = (1-t)3P1 + 3t(1-t)2P2 + 3t2(1-t)P3 + t3P4其中 t=01q 貝氏曲線的特性 曲線的起點及終點的切線方向等於端點與控制點的連線方向 曲線是兩端點及兩控制點的加權平均實 驗 流 程 2q非監督式的影像自動二元化qBlob分析 ： 求得葉片的幾何特徵1幾 何 描 述 子 特 徵堅實度似圓度長寬比平滑度基本幾何特徵 無 因 次 特 徵C=4A/P2R=4A / L2E=W/LG=H/PWAP HL實 驗 流 程 求葉邊緣3若兩點有顏色變化則 ( xr , yr )為葉片邊緣實 驗 流 程 求葉尖點與葉基點q由輪廓點離散函數 r()及 r“()的聯集求得4實 驗 流 程 貝氏曲線逼近q決定控制線方向q決定控制線長比5實 驗 流 程 正規化q四個正規點座標q縮放比q逼近誤差6
