第十二章 扫描电化学显微镜扫描电化学显微镜(SECM)是80年代末由 AJBard的小组提出和发展起来的一种 扫描探针显檄镜技术。它是基于70年代末 超徽电极(UME)及80年代初扫描隧道显微 镜(STM)的发展而产生出来的一种分辨率 介于普通光学显微镜与STM之间的电化学 现场检测新技术。与STM和AFM技术不同，SECM基于电化 学原理工作，可测量微区内物质氧化或还 原所给出的电化学电流。该技术驱动非常 小的电极（探针）在靠近样品处进行扫描 ， 样品可以是导体、绝缘体或半导体，从而 获得对应的微区电化学和相关信息，目前 可达到的最高分辨率约为几十纳米。一、SECM装置 1、电化学部分（电解池、探头、基底、各 种电极和双恒电位仪） 2、压电驱动器（用来精确地控制操作探针 和基底位置） 3、计算机（用来控制操作、获取和分析数 据） SECM Block Diagram双恒电位仪控制探针与基底电极的电位或 电流，定位装置控制探针对基底进行X、Y 、 Z方向扫描。电解池固定于操作台上。探 针电极的设计和表面状态可显著影响 SECM的分辨率和实验的重现性，用前需 处理以获得干净表面。1、探针
