2015半导体物理器件期末考试试题(全)(共9页).doc

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精选优质文档-倾情为你奉上半导体物理器件原理(期末试题大纲)指导老师:陈建萍一、简答题(共6题,每题4分)。 代表试卷已出的题目1、 耗尽区:半导体内部净正电荷与净负电荷区域,因为它不存在任何可动的电荷,为耗尽区(空间电荷区的另一种称呼)。2、 势垒电容:由于耗尽区内的正负电荷在空间上分离而具有的电容充放电效应,即反偏Fpn结的电容。3、 Pn结击穿:在特定的反偏电压下,反偏电流迅速增大的现象。4、 欧姆接触:金属半导体接触电阻很低,且在结两边都能形成电流的接触。5、 饱和电压:栅结耗尽层在漏端刚好夹断时所加的漏源电压。6、 阈值电压:达到阈值反型点所需的栅压。7、 基区宽度调制效应:随C-E结电压或C-B结电压的变化,中性基区宽度的变化。8、 截止频率:共发射极电流增益的幅值为1时的频率。9、 厄利效应:基带宽度调制的另一种称呼(晶体管有效基区宽度随集电结偏置电压的变化而变化的一种现象)10、 隧道效应:粒子穿透薄层势垒的量子力学现象。11、 爱因斯坦关系:扩散系数和迁移率的关系:12、 扩散电容:正偏pn结内

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