1、数字电子技术实验实验一 门电路 验证性实验一、实验目的1、熟悉 TTL芯片的引脚排列，了解主要参数的测试方法；、掌握基本门电路逻辑功能的测试方法。 二、实验原理TTL集成与非门是数字电路中广泛使用的一种基本逻辑门。使用时，必须对它的逻辑功能、主要参数和特性曲线进行测试，以确定其性能的好坏。与非门逻辑功能测试的基本方法是按真值表逐项进行。但有时按真值表测试显得有些多余。根椐与非门的逻辑功能可知当输入端全为高电平时，输出是低电平；当有一个或几个输入端为低电平时，输出为高电平。 可以化简逻辑函数或进行逻辑变换。 三、实验内容 (一 )、测与非门的逻辑功能v 1、选择双 4输入与非门74LS20，按图
2、 1.1接线； v 2、输入端、输出端分别接LG电平开关、 LG电平显示LED指示灯元件盒上；集成块及逻辑电平开关、逻辑电平显示元件盒接上同一路 5V电源。v 3、拨动电平开关，按表 1.1中情况分别测出输出电平。614 Vcc7地图 1.1输 入端 输 出端 1 2 4 5 6电 位 (V) 逻辑 状态 1 1 1 10 1 1 10 0 1 10 0 0 10 0 0 0表 1.1(二 )、测试与或非门的逻辑功能l、选两路四输入与或非门电路 1个 74LS55，按图 1.2接线： 、输入端接电平的插口，拨动开关当输入端为下表情况时分别测试输出端(8)的电位，将结果填入表1.2中：图 1.2
3、输 入端 输 出端 1 2 3 4 10 11 12 13 8电 位 (V) 逻辑 状态 1 1 1 1 0 0 0 01 1 1 1 0 0 0 10 0 0 0 1 1 1 10 0 0 1 1 1 1 11 0 0 0 0 0 0 10 0 0 0 0 0 0 0表 1.2(三 )、测逻辑电路的逻辑关系用 74LS00电路组成下列逻辑电路，按图 1.3、图1.4接线，写出下列图的逻辑表达表并化简，将各种输入电压情况下的输出电压分别填入表 1.3、表 1.4中，验证化简的表达式。图 1.3图 1.4AB ZZ输 入 输 出 A B Z0 00 11 01 1输 入 输 出 A B Z0 00 11 01 1表 1.3 表 1.4
