XRD简介及其应用 刘 璇 2017年12月13日主要内容 XRD（X-Ray Diffraction）主要用 于物相分析和晶体 结构的测定，它所 获取的所有信息都 基于材料的结构。 目 录 1 基础知识 2 X射线衍射原理及分析方法 3 Highscore软件使用1 基础知识 1、X射线概述 1895年：德国科学家伦琴发现了X射线（1901 年获得首届诺贝尔奖）； 19081911年：巴克拉测定了X射线谱 ； 1912年：德国科学家劳厄发现X射线在晶体 中的衍射现象，印证了X射线是电磁波（1914 年获得诺贝尔奖）； 1912年：英国科学家Bragg父子利用X射线 衍射测定了NaCl晶体的结构，开创了X射线 晶体结构分析的历史（1915年获得诺贝尔奖)。 （1）X射线特点 X射线波长范围0.001-10nm，在电磁波谱上处于 紫外与 射线之间, 适用于衍射分析的X射线波长0.05 -0.25nm。 1.1 X射线的特点及其产生 穿透能力很强，可以穿透23cm厚的木板， 1.5cm的铝板，但1.5mm厚的铅板几乎把X射线完 全挡住。 能在晶体中产生衍射花样，对衍射花样进行分析 可以确定
