第七章 X射线衍射分析的应用 1 p 第一节 物相分析 p 第二节 点阵常数的精确测定 p 第三节 宏观应力测定简介 1XRD的基本用途 单一物相的鉴定 或验证 物相定性分析 混合物相的鉴定 物相定量分析 晶体结构分析 点阵常数（晶胞参数）测定 原子排布的测定 空间群的测定 晶体定向等 非晶体结构分析 宏观应力分析 晶粒度测定 物相分析 2第一节 物相分析 物相分析： 即确定物质（材料）由哪些相 组成。 物相定量分析： 即确定各组成相的含量（常以体积 分数或质量分数表示）。 物相定性分析或称物相鉴定： 3一、物相定性分析 1. 基本原理 p不同物质的X射线衍射花样特征不同。 p物质的X射线衍射花样特征是分析物质相组成的 “指纹脚印”。 制备各种标准单相物质的衍射花样 规范化 对照 p方法： 确定物相 4p 1938年，哈那瓦特(J. D. Hanawalt)开创各种已知物 相衍射花样的规范化工作：将物相的衍射花样特征 用d(晶面间距)和I(衍射线相对强度)数据组表达，并 制成相应的物相衍射数据卡片。 p 卡片最初由“美国材料试验学会(ASTM)”出版，故 称ASTM卡片。 p 1969
