现代分析测试技术 Modern analytic and testing technologies 讲授教师：林旭聪 Institutions ：福州大学化学学院 Address ：旗山校区杨鸿耀楼433室 Folie.2 2001 Bruker AXS All Rights Reserved X 射线荧光光谱分析技术之二： 制样方法 n 制样的目的： n1 、均匀 n2 、重复性好 n3 、颗粒效应小 n4 、矿物效应小 n5 、无限厚（薄膜法除外） Folie.3 2001 Bruker AXS All Rights Reserved 分析层的厚度：无限厚 X-ray tube to soller slit (collimator) 分析层( 饱和厚度) 大于饱和厚度的样品 称为无限厚样品 Sample Folie.4 2001 Bruker AXS All Rights Reserved 分析层的厚度：无限厚 Sample B KA1 (0,18 keV) Sn LA1 (3,4 keV) Cr KA1 (5,4 keV) Sn KA1 (25,2 keV) tube to so
