扫描电子显微镜

1、扫描电子显微镜的应用及其发展 1前言 扫描电子显微镜SEMScanning Electron Microscopy是应用最为广泛的微观形貌观察工具。其观察结果真实可靠变形性小样品处理时的方便易行。其发展进步对材料的准确分析有着决定性作用。配。

2、钨灯丝扫描电子显微镜 EVO18 详细描述： 品牌：卡尔蔡司 型号：EVO 18 制造商：德国卡尔蔡司公司 经销商：欧波同纳米技术有限公司 免费咨询电话：800-8900-558 【品牌故事】 世界顶级光学品牌，可见光及电子光学的领导企业-德国蔡司公司始创于1846年。其电子 光学前身为LEO（里奥）,更早叫Cambridge（剑桥），积扫描电镜领域40 多年及透射电镜领域60年 的经验，ZEISS电子束技术在世界上创造了数个第一： 第一台静电式透射电镜 (1949) 第一台商业化扫描电镜 (1965) 第一台数字化扫描电镜(1985) 第一台场发射扫描电镜(1990) 第一台带有成像。

3、报告人：张凯 火炎指导老师：乐永康老师 蔡群老师,扫描电子显微镜（SEM）原理和应用,Outline,实验动机SEM的工作原理与仪器介绍SEM的维护与校准不同显微镜结果对比不同尺度金刚石颗粒拉曼光谱研究总结,实验动机,小尺度有大智慧,SEM的工作原理,SEM的工作原理：1、电子束扫描样品2、在样品表面激发出次级电子3、次级电子由探测体收集4、电子被闪烁器转变为光信号5、光电倍增管和放大器转变为电信号6、显示出与电子束同步的扫描图像。,SEM仪器介绍JEOL: JSM-T200,真空系统,电子束系统,分析系统,SEM三大部分：,SEM维护灯丝更换,SEM的调试,预热。

4、微米纳米研究中心 Micro and Nano Technology Research Center STATE KEY LABORATORY FOR MANUFACTURING SYSTEMS ENGINEERINGSKLMS 机械制造系统工程国家重点实验室微纳研究中心超净室系列讲座之 2 扫描电子显微镜微米纳米研究中心 Micro and Nano Technology Research Center STATE KEY LABORATORY FOR MANUFACTURING SYSTEMS ENGINEERINGSKLMS 机械制造系统工程国家重点实验室微米纳米研究中心 Micro and Nano Technology Research Center STATE KEY LABORATORY FOR MANUFACTURING SYSTEMS ENGINEERINGSKLMS 机械制造系统工程国家重点实。

5、扫描电子显微镜的应用及其发展 1前言 扫描电子显微镜SEMScanning Electron Microscopy是应用最为广泛的微观形貌观察工具。其观察结果真实可靠变形性小样品处理时的方便易行。其发展进步对材料的准确分析有着决定性作用。配。

6、产品数据主要优点 场发射 SEM（带超稳定且高电流 Sc hottky 电子枪） 先进的光学和探测性能，包括沉浸模式、射束加速、透镜内 TLD -SE 和 TLD -BSE、D BS 和 STEM，以实现最佳信息和图像优化选择 射束着陆能量、低至 50 V 1.4 nm 1 kV，非射束减速 全球唯一真正的高分辨率低真空场发射扫描电子显微镜 (FE SEM)：1 .8 nm 3 kV、30 P a 最高 200 nA，适于高或低真空分析 集成的 1 6 位扫描/制图引擎 超洁净、无油滚动和涡抽气真空系统 150 x 150 mm 高度精确、高度稳定的压电驱动样品台 (N ova NanoSEM 650)Nova NanoSEM five.fittedzero.fi。

7、及其在材料研究中的应用及其及其在材料研究中的应用在材料研究中的应用透射电镜的构造及成象透射电镜的构造及成象一、电子光学系统：照明系统： 电子枪聚光镜成象系统： 物镜中间镜投影镜观察记录系统： 荧光屏照相室1、照明系统：A、电子枪双聚光镜B、聚光镜照明孔径角 c对景深、象差、衍射斑点和位相衬度有影响。2、成象系统：A、物镜：形成一次放大象和衍射谱。B、中间镜：将一次象或衍射象投射到投影镜上。C、投影镜：将二次象或衍射谱放大到荧光屏上。3、观察记录系统：荧光屏和照相室。二、真空系统：1、 前级真空泵（旋转机械泵）2。

8、 1 气相色谱 质谱 联用 仪 技术参数 1. 技术 规格 （ *为必须满足项） *1.1气相色谱仪 质谱仪 能够 与 商用热脱附仪、吹扫捕集仪、顶空等前处理设备 联接， 同时 软件和硬件兼容 。 *1.2质谱仪质量数范围 包含 21000u 的范围。 *1.3质谱仪灵敏度 :EI scan(1pg,八氟萘 OFN,m/z272)信噪比 S/N高于 1500。 *1.4质谱仪质量稳定性 0.1u/48小时。 *1.5质谱仪最大扫描速度 15000u/s。 *1.6质谱仪标配 EI 离子源，可选配 NCI 源。 *1.7离子源采用双灯丝设计，离子化能量高能量 100eV。 *1.8质量分析器 为 配备预四级杆的高精度全金属单四级杆 或石。

9、 场发射扫描电子显微镜购置HGJL2013WZ003招标文件广东华工工程建设监理有限公司2013 年 5 月场发射扫描电子显微镜购置 HGJL2013WZ0031总 目 录第一部分 投标邀请函2第二部分 投标人须知4第三部分 用户需求书23第四部分 合同书格式29第五部分 投标文件格式36场发射扫描电子显微镜购置 HGJL2013WZ0032第一部分投 标 邀 请 函场发射扫描电子显微镜购置 HGJL2013WZ0033投 标 邀 请 函广东。

10、扫描电子显微镜操作规程1. 打开墙上配电箱里的空气开关（见标签上开下关）2. 打开变压器电源（正常电压应为 100v）3. 打开主机电源：钥匙拧到 START 位置，停两秒松手，钥匙回到 I 位置。4. 打开电脑电源5. 点击桌面图标，等待6. 当 HT 图标显示蓝色后，点 VENT 排气（排气时 vent 闪，排完气 vent 不闪） ，排完气方可打开样品室7. 正确选择 Z 轴高度（需要估计样品高度，Z 轴大于样品高度放入样品，关闭样品台，点击 EVAC 抽气，抽气时推着样品室门，听到机械泵响声后松手8. 打开 HT 图标（此图标在非真空下是灰色，真空位蓝色，打开灯。

11、电子显微镜Electron Microscopy电子显微镜 透射电子显微镜 TEM TEM构造 TEM制样 薄膜制备 染色技术 复型技术 TEM应用实例 HIPS结构探测 相形态结构表征 扫描电子显微镜 SEM SEM构造 SEM制样 SEM应用实例 相结构表征 形貌观察 两相粘合状态考察引言 光波经由透镜折射到像平面上会与周围区域的光波发生干涉现象（衍射）。这使得物点经过透镜成的像在像平面上不再是一个像点，而是一个 Airy亮斑。显微技术分辨率 通常把两个 Airy斑中心间距等于 Airy斑半径时，物平面上相应的两个物点间距定义为透镜能分辨的最小间距，即透镜分辨率。 由于受。

12、第02讲 扫描电子显微镜-1,第02讲 扫描电子显微-1,概述电子束与样品作用时产生的信号扫描电子显微镜的构造和工作原理样品制备扫描电子显微镜的主要性能表面形貌衬度及其应用原子序数衬度原理及其应用,1. 概 述,扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope -SEM)是通过细聚焦电子束在样品表面扫描激发出的各种物理信号来调制成像的显微分析技术。SEM成像原理与TEM不同，不用电磁透镜放大成像；新式SEM的二次电子分辨率已达1nm以下，放大倍数可从数倍原位放大到30万倍；景深大，可用于显微断口分析，不用复制样品；样品室大，可安装更多的。

13、扫描电子显微镜 采购项目招标文件招标编号：2017163南京航空航天大学二一七年九月南京航空航天大学仪器设备招标文件1 / 33目录.招标公告.投标人须知.投标文件格式.货物需求一览表及技术规格.招标商务条款.合同条款南京航空航天大学仪器设备招标文件2 / 33.招标公告致投标人：南京航空航天大学将对扫描电子显微镜及其伴随服务进行招标，现邀请有供货能力的制造厂商、代理商或经销商前来投标。1. 招标文件编号：2017163 采购形式：公开招标2. 招标内容及数量：工业机器人激光切割工作站，详见货物需求一览表及技术规格。3. 投标人资格要求：。

14、 扫描 电子显微镜 采购项目 招标文件 招标编号： 2017163 南京航空航天大学 二一 七 年 九 月南京航空航天大学 仪器设备招标文件 1 / 33 目录 .招标公告 .投标人须知 .投标文件格式 .货物需求一览表及技术规格 .招标商务条款 .合同 条款 南京航空航天大学 仪器设备招标文件 2 / 33 .招标公告 致投标人： 南京航空航天大学将对 扫描 电子显微镜 及其伴随服务进行招标，现邀请有供货能力的制造厂商、代理商或经销商前来投标。 1. 招标文件编号： 2017163 采购形式：公开招标 2. 招标内容及数量： 扫描 电子显微镜 ，详见货物需求一览表及技。

15、2018/9/26,1,第十四章 扫描电子显微镜,电子束与固体样品相互作用扫描电镜结构原理主要性能指标二次电子图象衬度原理及其应用 背散射电子图象衬度原理及其应用 其它信号图象扫描电镜操作 样品制备,2018/9/26,HPU-LQ,2,主要优点：放大倍数大、制样方便、分辨率高、景深大等目前广泛应用于材料、生物等研究领域扫描电子显微镜的成象原理和光学显微镜、透射电子显微镜均不同，它不是以透镜放大成象，而是以类似电视摄影显象的方式、用细聚焦电子束在样品表面扫描时激发产生的某些物理信号来调制成象，近年扫描电镜多与波谱仪、能谱仪等组合构。

16、实验三 扫描电子显微镜实验一、实验目的1、了解扫描电镜的基本结构和原理2、掌握扫描电镜的操作方法3、掌握扫描电镜样品的制备方法4、选用合适的样品，通过对表面形貌衬度和原子序数衬度的观察，了解扫描电镜图像衬底原理及其应用。二、实验原理扫描电子显微镜利用细聚焦电子束在样品表面逐点扫描，与样品相互作用产行各种物理信号，这些信号经检测器接收、放大并转换成调制信号，最后在荧光屏上显示反映样品表面各种特征的图像。扫描电镜具有景深大、图像立体感强、放大倍数范围大、连续可调、分辨率高、样品室空间大且样品制备简单等特。

17、中国科学技术大学力学与机械工程系材料现代测试技术扫描电子显微镜的结构和工作原理龚 明中国科学技术大学力学与机械工程系材料现代测试技术扫描电镜 成像原理一 .成像原理 ： 利用 细 聚焦电子束 在样品 表面扫描时激发出来的各种 物理信号调制成像 。类似电视摄影显像的方式。 电子束经三个电磁透镜 聚焦 后，成直径为几个纳米的电子束； 末级透镜上部的扫描线圈能使电子束在试样表面上做 光栅扫描 。试样在电子束作用下， 激发出各种信号 ，信号的强度取决于试样表面的形貌、受激发区域的成分和晶体取向。 在试样附近的探测器把激发出。

18、扫描电子显微镜 材料现代分析方法扫描电子显微镜 概述 电子束与样品作用时产生的信号 扫描电子显微镜的构造和工作原理 扫描电子显微镜的主要性能 表面形貌衬度及其应用 原子序数衬度原理及其应用 材料现代分析方法材料现代分析方法 概述 扫描电子显微镜（Scanning electron microscope -SEM） 是通过细聚焦电子束在样品表面扫描激发出的各种物 理信号来调制成像的显微分析技术。 SEM成像原理与TEM不同，不用电磁透镜放大成像； 新式SEM的二次电子分辨率已达1nm以下，放大倍数 可从数倍原位放大到30万倍； 景深大，可用于显微断口分析，不。