题目 简易数字集成电路参数测试仪

1、精选优质文档倾情为你奉上 数字集成电路测试仪硬件的设计 引言：论文从集成电路测试仪器硬件的设计思路设计要求硬件设计的方法软件的配套设计等方面进行探讨，以提升数字集成电路测试仪器硬件设计的可行性和可靠性，并针对软件与硬件设备的相互结合来开发数。

2、本 科 毕 业 设 计 论 文题 目 简易数字集成电路测试仪的设计与实现 所 在 系 电气与信息工程系 专 业 电子信息工程 班 级 电 信 xxx 学号 xxxxxxxx 学生姓名 xx xx xx 指导教师 xx xx xx 2010 年 6 月摘 要I摘 要随着数字集成电路日益广泛的应用，其相关的测试技术也显得愈发重要。为了保证数字集成电路的功能和性能参数符合技术要求，在集成电路的设计验证、产品检验以及现场维护等方面都需要对集成电路进行测试。而测试设备是必不可少的工具，因此研究它们的测试技术和开发测试设备具有重要的意义。本文所设计的集成电路测试仪采用 MCS。

3、本 科 毕 业 设 计 论 文 题 目 简易数字集成电路测试仪的设计与实现 所 在 系 电气与信息工程系 专 业 电子信息工程 班 级 电 信 xxx 学号 xxxxxxxx 学生姓名 xx xx xx 指导教师 xx xx xx 2010 年 6 月 摘 要 I 摘 要 随着数字集成电路日益广泛的应用，其相关的测试技术也显得愈发重要。 为了保证数字集成电路的功能和性能参数符合技术要求，在集成电路的设计验 证、产品检验以及现场维护等方面都需要对集成电路进行测试。而测试设备是 必不可少的工具，因此研究它们的测试技术和开发测试设备具有重要的意义。 本文所设计的集成电路测试。

4、精选优质文档倾情为你奉上 File name: main.c Last modified Date: 20040916 Last Version: 1.0 Descriptions: The main function example te。

5、数字集成电路测试仪硬件的设计 引言：论文从集成电路测试仪器硬件的设计思路、设计要求、硬件设计的方法、软件的配套设计等方面进行探讨，以提升数字集成电路测试仪器硬件设计的可行性和可靠性，并针对软件与硬件设备的相互结合来开发数字集成电路测试仪器进行分析。 数字集成电路在仪器中的使用非常广泛，由于其本身的体积小，在数字电路实验室中的性能优劣的判断难度较大，因而，数字集成电路的测试工作一直困扰着业内的研究人员。论文中针对此类问题，提出运用 C 语言、数字电路、低频电路、单片机原理等知识内容，设计了一台数 字集成。

6、精选优质文档倾情为你奉上 数字集成电路测试仪 参赛组别 08 小组成员 王 海电信081 陈辰灿电信082 贺星辰电信082 2011年6月5日 目录 摘要： 在当今社会中，电子技术发展迅速，数字集成电路的应用广泛，而74系列逻辑芯片在数字。

7、重庆大学本科学生课程设计指导教师评定成绩表 说明：1学院专业年级均填全称。 2本表除评语成绩和签名外均可采用计算机打印。 重庆大学本科学生课程设计任务书 说明：1学院专业年级均填全称。 2本表除签名外均可采用计算机打印。本表不够，可另附页，。

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9、精选优质文档倾情为你奉上 重庆大学本科学生课程设计指导教师评定成绩表 学 号 指导教师 学 院 通信工程学院 专 业 集成电路设计与集成系统 学生姓名 课程设计 题目 数字集成电路参数测试仪 指 导 教 师 评 语 课程设计 成绩 指导教师。

10、 2006 年 福 建 大 学 生 电 子 设 计 竞 赛 试 题A 简易数字集成电路参数测试仪一、任务：设计制作一个 74 系列中小规模数字集成电路参数测试仪。二、要求：1、基本要求：（1）能对 74 系列中小规模数字集成电路的 VIH(min)、V IL(max)、V OH、V OL、I IL、I OL 等参数指标进行单项自动测试。（2）测量参数项目及指标要求（V CC=5V）： A、V IH(min)、V OH 测量范围为 05V，误差1%读数1 个字；B、V IL(max)、V OL 测量范围为 01V，误差1%读数1 个字；C、I IL， IOL （R L=300）测量范围为 020mA，误差1%读数1 个字；（3）测试项目有对应。