对原子力显微镜(AFM)的进一步探索.ppt

上传人:ga****84 文档编号:358354 上传时间:2018-09-26 格式:PPT 页数:12 大小:2.40MB
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1、陈智健 0519022,对原子力显微镜(AFM)的进一步探索,1981年,Binnig和Rohrer等利用隧道效应研制出第一台扫描隧道显微镜(STM)1986年,Binnig通过改进STM研制出第一台原子力显微镜(AFM)显微镜是人们研究物质结构的有力工具,把人类的视野从宏观引入到微观。,AFM的研制,显微镜的发展历程,我们所用的AFM,非接触模式 分辨率受到很大限制接触模式 切向力引起样品表面发生变形,甚至导致样品表面 发生不可恢复的形变轻敲模式(推荐) 施加一频率接近其共振频率的激励,通过振幅或相位信号的变化来测得样品表面的形貌特征,AFM的工作模式,探针易坏且昂贵,避免人为因素造成的损坏

2、使用较为便宜的有凹槽的探针;利用电化学腐蚀法自己制备探针,以降低实验成本不能盲目迷信电脑的进针过程,肉眼确定与软件控制相结合,多次进针,对实验的一些要求与改进,SETPOINT对图像质量的影响,S-P=10.025nN S-P=20.017nN S-P=30.010nN,P-GAIN和I-GAIN对图像质量的影响,P-GAIN=9, I-GAIN=9,P-GAIN和I-GAIN对图像质量的影响,P-GAIN=12, I-GAIN=12,P-GAIN和I-GAIN对图像质量的影响,P-GAIN=11, I-GAIN=11,优点:分辨率高;成像时间短;可对样品表面进行操作直接的例子:检查光盘的光洁情况AFM已经在很多科学领域得到了成功的应用,容易获得形貌特征信息和纳米尺度上的粗糙度等AFM的应用已经不局限在材料科学领域,越来越多的被应用于科学研究、纳米技术、微电子技术等领域,AFM的应用,THE ENDTHANK YOU!,

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